特許ランキング - 出願人詳細情報 -

株式会社日立ハイテクノロジーズ

※ ログインすれば出願人(株式会社日立ハイテクノロジーズ)をリストに登録できます。ログインについて

　■　2013年出願公開件数ランキング　　　第59位　716件（2012年：第54位　709件）

　■　2013年特許取得件数ランキング　　　第51位　717件（2012年：第71位　547件）

（ランキング更新日：2024年12月12日）筆頭出願人である出願のみカウントしています

2011年 2012年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年

株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧

公報番号	発明の名称	公報発行日	備考
特開 2013-187510	半導体検査装置および半導体検査方法	2013年 9月19日
特開 2013-186275	露光装置、及び露光装置のプリアライメント方法	2013年 9月19日
特開 2013-185972	液体クロマトグラフ及び分析方法	2013年 9月19日
特開 2013-185918	プラズマ分光分析装置	2013年 9月19日
特開 2013-185912	自動分析装置	2013年 9月19日
特開 2013-182760	荷電粒子線装置	2013年 9月12日
特開 2013-182792	荷電粒子線装置	2013年 9月12日
特開 2013-182966	プラズマ処理装置及びプラズマ処理方法	2013年 9月12日
特開 2013-181910	質量分析システム	2013年 9月12日	共同出願
特開 2013-181903	分析装置および分析方法	2013年 9月12日
特開 2013-181931	温度計測装置	2013年 9月12日
再表 2012-14828	イオントラップ質量分析装置および質量分析方法	2013年 9月12日
特開 2013-182996	ドライエッチング装置及びドライエッチング方法	2013年 9月12日
再表 2012-14870	収差補正装置およびそれを用いた荷電粒子線装置	2013年 9月12日
特開 2013-179105	半導体評価装置、及びコンピュータープログラム	2013年 9月 9日

716 件中 211-225 件を表示

... 15

※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。

このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー

2013-187510 2013-186275 2013-185972 2013-185918 2013-185912 2013-182760 2013-182792 2013-182966 2013-181910 2013-181903 2013-181931 2012-14828 2013-182996 2012-14870 2013-179105

※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。株式会社日立ハイテクノロジーズの知財の動向チェックに便利です。

ログインについて

ランキング一覧に戻る

特許ランキング

2024年特許出願件数	2024年特許取得件数
2023年特許出願件数	2023年特許取得件数
2022年特許出願件数	2022年特許取得件数
2021年特許出願件数	2021年特許取得件数
2020年特許出願件数	2020年特許取得件数
2019年特許出願件数	2019年特許取得件数
2018年特許出願件数	2018年特許取得件数
2017年特許出願件数	2017年特許取得件数
2016年特許出願件数	2016年特許取得件数
2015年特許出願件数	2015年特許取得件数
2014年特許出願件数	2014年特許取得件数
2012年特許出願件数	2012年特許取得件数
2011年特許出願件数	2011年特許取得件数