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株式会社日立ハイテクノロジーズ

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  2013年 出願公開件数ランキング    第59位 716件 下降2012年:第54位 709件)

  2013年 特許取得件数ランキング    第51位 717件 上昇2012年:第71位 547件)

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公報番号発明の名称公報発行日備考
再表 2012-8324 自動分析装置、分析方法及び情報処理装置 2013年 9月 9日
特開 2013-178103 パターン寸法測定装置、及びコンピュータプログラム 2013年 9月 9日
特開 2013-178876 荷電粒子線装置 2013年 9月 9日
特開 2013-178878 コッククロフト・ウォルトン回路を用いた高電圧発生装置、及び荷電粒子線装置 2013年 9月 9日
特開 2013-179105 半導体評価装置、及びコンピュータープログラム 2013年 9月 9日
特開 2013-178877 荷電粒子線装置 2013年 9月 9日
特開 2013-178242 X線検査装置、検査方法およびX線検出器 2013年 9月 9日
特開 2013-178445 露光装置、露光方法、及び表示用パネル基板の製造方法 2013年 9月 9日
特開 2013-178880 走査電子顕微鏡 2013年 9月 9日
特開 2013-178879 走査電子顕微鏡 2013年 9月 9日
特開 2013-174536 自動分析装置 2013年 9月 5日
特開 2013-174506 自動分析装置 2013年 9月 5日
特開 2013-174454 自動分析装置 2013年 9月 5日
特開 2013-175784 プラズマ処理方法 2013年 9月 5日
特開 2013-175624 太陽電池モジュールの生産方法および太陽電池モジュール組立装置 2013年 9月 5日

716 件中 226-240 件を表示

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2012-8324 2013-178103 2013-178876 2013-178878 2013-179105 2013-178877 2013-178242 2013-178445 2013-178880 2013-178879 2013-174536 2013-174506 2013-174454 2013-175784 2013-175624

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