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株式会社日立ハイテクノロジーズ

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　■　2011年特許取得件数ランキング　　　第98位　350件（2010年：第95位　307件）

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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧

公報番号	発明の名称	公報発行日
特開 2011-232132	自動分析装置	2011年11月17日
特開 2011-232473	搭載装置，加熱圧着装置および表示パネルモジュール組立装置	2011年11月17日
特開 2011-233532	荷電粒子線装置	2011年11月17日
特開 2011-233708	ＦＰＤモジュールの組立装置	2011年11月17日
再表 2009-151058	磁性粒子を用いる分析装置	2011年11月17日
特開 2011-232354	校正用標準部材	2011年11月17日
特開 2011-232696	ＦＰＤの実装組立装置および実装組立方法	2011年11月17日
特開 2011-233721	真空処理装置及び真空処理方法	2011年11月17日
特開 2011-234145	ＲＤＭＡ受信装置	2011年11月17日
特開 2011-232359	パターン測定方法、及びパターン測定装置	2011年11月17日
特開 2011-232212	自動分析装置	2011年11月17日
特開 2011-228436	プラズマ処理装置およびプラズマ処理方法	2011年11月10日
特開 2011-228475	稠密スロット透過型電極体を用いたプラズマ処理装置	2011年11月10日
特開 2011-228397	真空処理装置	2011年11月10日
特開 2011-228741	半導体ウェーハ検査装置	2011年11月10日

689 件中 76-90 件を表示

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2011-232132 2011-232473 2011-233532 2011-233708 2009-151058 2011-232354 2011-232696 2011-233721 2011-234145 2011-232359 2011-232212 2011-228436 2011-228475 2011-228397 2011-228741

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