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日本電子株式会社

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日本電子株式会社の商標一覧

公報番号	発明の名称	公報発行日
特開 2012-255697	電子顕微鏡観察用染色剤および電子顕微鏡観察用試料の染色方法	2012年12月27日
特開 2012-255727	分析方法及び分析装置	2012年12月27日
特開 2012-252979	絞り調整方法および電子ビーム装置	2012年12月20日
特開 2012-243667	飛行時間質量分析装置及び飛行時間質量分析方法	2012年12月10日
特開 2012-242231	臨床検査用分析装置の液体容器	2012年12月10日
特開 2012-238533	電子線装置及び電子顕微鏡用ガス反応試料ホルダ	2012年12月 6日
特開 2012-229462	多点蒸発源装置	2012年11月22日
特開 2012-225879	生化学分析装置	2012年11月15日
特開 2012-227170	試料保持体及び試料検査装置並びに試料検査方法	2012年11月15日
特開 2012-222138	電子ビーム描画方法及び電子ビーム描画装置	2012年11月12日
特開 2012-222223	電子ビーム描画装置	2012年11月12日
特開 2012-209050	電子顕微鏡および３次元像構築方法	2012年10月25日
特開 2012-204041	電子顕微鏡及び三次元像構築方法	2012年10月22日
特開 2012-202682	電界イオン化イオン源の調整方法	2012年10月22日
特開 2012-199052	電子検出機構及びそれを備えた荷電粒子線装置	2012年10月18日

64 件中 1-15 件を表示

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2012-255697 2012-255727 2012-252979 2012-243667 2012-242231 2012-238533 2012-229462 2012-225879 2012-227170 2012-222138 2012-222223 2012-209050 2012-204041 2012-202682 2012-199052

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