日本電子株式会社
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■ 2012年 出願公開件数ランキング 件
（
2011年： 件）
■ 2012年 特許取得件数ランキング 件
（2011年： 件）
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日本電子株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5110812 | オージェ電子分光による化学状態分析法及び装置 | 2012年12月26日 | |
| 特許 5111042 | 電子顕微鏡用カートリッジ | 2012年12月26日 | |
| 特許 5111077 | 自動焦点・自動非点設定方法及び自動焦点・自動非点設定プログラム | 2012年12月26日 | |
| 特許 5103672 | 荷電粒子線装置の試料ステージ移動装置 | 2012年12月19日 | |
| 特許 5093831 | 静電偏向装置 | 2012年12月12日 | |
| 特許 5091065 | 走査プローブ顕微鏡 | 2012年12月 5日 | |
| 特許 5091096 | 荷電粒子発生装置 | 2012年12月 5日 | |
| 特許 5090887 | 電子ビーム描画装置の描画方法及び電子ビーム描画装置 | 2012年12月 5日 | |
| 特許 5084528 | 電子顕微鏡の制御装置及び制御方法 | 2012年11月28日 | |
| 特許 5084188 | 試料保持体、試料検査方法及び試料検査装置並びに試料検査システム | 2012年11月28日 | |
| 特許 5084400 | 波形分離方法 | 2012年11月28日 | |
| 特許 5069061 | 荷電粒子ビーム装置 | 2012年11月 7日 | |
| 特許 5069066 | 収差補正装置及び収差補正方法 | 2012年11月 7日 | |
| 特許 5069020 | 電子ビーム発生装置 | 2012年11月 7日 | |
| 特許 5069158 | タンデム型飛行時間型質量分析装置 | 2012年11月 7日 |
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5110812 5111042 5111077 5103672 5093831 5091065 5091096 5090887 5084528 5084188 5084400 5069061 5069066 5069020 5069158
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