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日本電子株式会社

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　■　2011年特許取得件数ランキング　　　第532位　60件（2010年：第555位　49件）

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日本電子株式会社の商標一覧

公報番号	発明の名称	公報発行日	備考
特開 2011-181503	飛行時間型質量分析方法及び装置	2011年 9月15日
特開 2011-170207	微細構造物の製造方法	2011年 9月 1日	共同出願
特開 2011-171218	エネルギーフィルタを備えた走査透過電子顕微鏡	2011年 9月 1日
特開 2011-163999	走査型プローブ顕微鏡用高周波磁場発生装置	2011年 8月25日
特開 2011-165735	電子ビーム描画装置の描画方法及び電子ビーム描画装置	2011年 8月25日
特開 2011-164006	走査型プローブ顕微鏡	2011年 8月25日
特開 2011-164055	ＮＭＲ装置用自動試料交換装置	2011年 8月25日
特開 2011-159563	透過電子顕微鏡の制御装置、透過電子顕微鏡システム、透過電子顕微鏡の制御方法、およびプログラム	2011年 8月18日
特開 2011-153846	Ｘ線検出装置	2011年 8月11日
特開 2011-146287	飛行時間型質量分析装置	2011年 7月28日
特開 2011-141298	ＮＭＲデータの処理装置及び方法	2011年 7月21日	共同出願
特開 2011-141162	固体ＮＭＲスペクトルの測定方法	2011年 7月21日
特開 2011-134931	半導体検査装置のレシピ設定支援方法及び装置	2011年 7月 7日
特開 2011-128478	マスクパターン描画方法及び装置	2011年 6月30日
特開 2011-129343	荷電粒子線装置の試料ホルダ	2011年 6月30日

66 件中 16-30 件を表示

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2011-181503 2011-170207 2011-171218 2011-163999 2011-165735 2011-164006 2011-164055 2011-159563 2011-153846 2011-146287 2011-141298 2011-141162 2011-134931 2011-128478 2011-129343

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