日本電子株式会社
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（
2010年： 件）
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（2010年： 件）
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日本電子株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 4833708 | 大気圧イオン化方法及び試料保持装置 | 2011年12月 7日 | |
| 特許 4833743 | 画像モンタージュ処理によるステージ動作補正方法 | 2011年12月 7日 | |
| 特許 4822848 | 荷電粒子ビーム装置 | 2011年11月24日 | |
| 特許 4822826 | 粒子解析方法及び装置 | 2011年11月24日 | |
| 特許 4822925 | 透過型電子顕微鏡 | 2011年11月24日 | |
| 特許 4822920 | ３次元像構築方法および透過電子顕微鏡 | 2011年11月24日 | |
| 特許 4802041 | らせん軌道型飛行時間型質量分析計 | 2011年10月26日 | |
| 特許 4802032 | タンデム型質量分析装置 | 2011年10月26日 | |
| 特許 4801999 | 測定データ管理方法、測定データ構造、スペクトル再生方法及び表面分析装置 | 2011年10月26日 | |
| 特許 4790511 | 荷電粒子ビーム装置 | 2011年10月12日 | |
| 特許 4790338 | 試料検査装置及び試料検査装置の制御方法 | 2011年10月12日 | |
| 特許 4790411 | 非点収差補正方法および電子ビーム描画装置 | 2011年10月12日 | |
| 特許 4790567 | ロンチグラムを用いた収差測定方法及び収差補正方法及び電子顕微鏡 | 2011年10月12日 | |
| 特許 4790393 | 電子検出器及びそれを備えたビーム装置 | 2011年10月12日 | |
| 特許 4790507 | プロダクトイオンスペクトル作成方法及び装置 | 2011年10月12日 |
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4833708 4833743 4822848 4822826 4822925 4822920 4802041 4802032 4801999 4790511 4790338 4790411 4790567 4790393 4790507
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