日本電子株式会社
※ ログインすれば出願人(日本電子株式会社)をリストに登録できます。ログインについて
■ 2011年 出願公開件数ランキング 第547位 66件
（
2010年：第406位 107件）
■ 2011年 特許取得件数ランキング 第532位 60件
（
2010年：第555位 49件）
（ランキング更新日：2024年11月22日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
2012年 2013年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年
日本電子株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 4833708 | 大気圧イオン化方法及び試料保持装置 | 2011年12月 7日 | |
| 特許 4833743 | 画像モンタージュ処理によるステージ動作補正方法 | 2011年12月 7日 | |
| 特許 4822848 | 荷電粒子ビーム装置 | 2011年11月24日 | |
| 特許 4822826 | 粒子解析方法及び装置 | 2011年11月24日 | |
| 特許 4822925 | 透過型電子顕微鏡 | 2011年11月24日 | |
| 特許 4822920 | ３次元像構築方法および透過電子顕微鏡 | 2011年11月24日 | |
| 特許 4802041 | らせん軌道型飛行時間型質量分析計 | 2011年10月26日 | |
| 特許 4802032 | タンデム型質量分析装置 | 2011年10月26日 | |
| 特許 4801999 | 測定データ管理方法、測定データ構造、スペクトル再生方法及び表面分析装置 | 2011年10月26日 | |
| 特許 4790511 | 荷電粒子ビーム装置 | 2011年10月12日 | |
| 特許 4790338 | 試料検査装置及び試料検査装置の制御方法 | 2011年10月12日 | |
| 特許 4790411 | 非点収差補正方法および電子ビーム描画装置 | 2011年10月12日 | |
| 特許 4790567 | ロンチグラムを用いた収差測定方法及び収差補正方法及び電子顕微鏡 | 2011年10月12日 | |
| 特許 4790393 | 電子検出器及びそれを備えたビーム装置 | 2011年10月12日 | |
| 特許 4790507 | プロダクトイオンスペクトル作成方法及び装置 | 2011年10月12日 |
60 件中 1-15 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー
4833708 4833743 4822848 4822826 4822925 4822920 4802041 4802032 4801999 4790511 4790338 4790411 4790567 4790393 4790507
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。日本電子株式会社の知財の動向チェックに便利です。
特許ランキング
11月22日(金) -
11月22日(金) - 東京 千代田区
11月22日(金) - 東京 港区
11月22日(金) -
11月22日(金) - 大阪 大阪市
11月22日(金) -
11月22日(金) -
11月25日(月) -
11月25日(月) - 岐阜 各務原市
11月26日(火) -
11月26日(火) - 東京 港区
11月26日(火) -
11月26日(火) -
11月26日(火) -
11月27日(水) - 東京 港区
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月28日(木) - 東京 港区
11月28日(木) - 島根 松江市
11月28日(木) - 京都 京都市
11月28日(木) -
11月28日(木) - 大阪 大阪市
11月28日(木) -
11月29日(金) - 東京 港区
11月29日(金) - 茨城 ひたちなか市
11月30日(土) -
12月1日(日) -
12月1日(日) -
11月25日(月) -
特許事務所紹介 IP Force 特許事務所紹介
福岡市博多区博多駅前3丁目25番21号 博多駅前ビジネスセンター411号 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
バーチャルオフィス化に伴い、お客様、お取引先様には個別にご案内させていただいております。 特許・実用新案 商標 外国特許 外国商標 コンサルティング
〒195-0074 東京都町田市山崎町1089-10 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 鑑定 コンサルティング
