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■ 2014年 出願公開件数ランキング 第737位 41件 (2013年:第742位 45件)
■ 2014年 特許取得件数ランキング 第635位 50件 (2013年:第494位 71件)
(ランキング更新日:2024年9月27日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特開 2014-153342 | 試料分析方法および試料分析装置 | 2014年 8月25日 | |
特開 2014-146486 | 荷電粒子線装置 | 2014年 8月14日 | |
特開 2014-143472 | 撮像装置 | 2014年 8月 7日 | |
特開 2014-136200 | ナノ粒子製造装置 | 2014年 7月28日 | |
特開 2014-130715 | 位相板の製造方法および位相板 | 2014年 7月10日 | |
特開 2014-120366 | 飛行時間型質量分析装置 | 2014年 6月30日 | |
特開 2014-116219 | 色収差補正装置および電子顕微鏡 | 2014年 6月26日 | |
特開 2014-116185 | 試料位置決め装置、荷電粒子線装置、および試料ホルダー | 2014年 6月26日 | |
特開 2014-103010 | 質量分析装置及び質量分析装置の制御方法 | 2014年 6月 5日 | |
特開 2014-102879 | 試料ホルダーおよび電子顕微鏡 | 2014年 6月 5日 | |
特開 2014-103009 | 質量分析装置及び質量分析装置の調整方法 | 2014年 6月 5日 | |
特開 2014-95111 | 成膜装置及び成膜装置の動作方法 | 2014年 5月22日 | |
特開 2014-93211 | 荷電粒子ビームの偏向装置及びそれを備えた荷電粒子ビーム装置 | 2014年 5月19日 | |
特開 2014-89871 | タンデム飛行時間型質量分析計 | 2014年 5月15日 | |
特開 2014-85169 | 自動分析装置 | 2014年 5月12日 |
41 件中 16-30 件を表示
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2014-153342 2014-146486 2014-143472 2014-136200 2014-130715 2014-120366 2014-116219 2014-116185 2014-103010 2014-102879 2014-103009 2014-95111 2014-93211 2014-89871 2014-85169
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