日本電子株式会社
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■ 2014年 出願公開件数ランキング 第737位 41件
（
2013年：第742位 45件）
■ 2014年 特許取得件数ランキング 第635位 50件
（
2013年：第494位 71件）
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日本電子株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5632992 | ターボ分子ポンプの接続装置 | 2014年12月 3日 | |
| 特許 5623719 | 荷電粒子線装置の色収差補正装置及びその補正方法 | 2014年11月12日 | |
| 特許 5623755 | 電子ビーム描画装置の描画方法及び電子ビーム描画装置 | 2014年11月12日 | |
| 特許 5606726 | 試料ホルダ及び試料取り付け取り外し治具 | 2014年10月15日 | |
| 特許 5606723 | シリコンドリフト型Ｘ線検出器 | 2014年10月15日 | |
| 特許 5586418 | 荷電粒子ビーム描画装置の自動調整方法及び荷電粒子ビーム描画装置 | 2014年 9月10日 | |
| 特許 5576810 | 荷電粒子線装置の試料位置決め装置 | 2014年 8月20日 | |
| 特許 5576825 | 電子線装置及び電子顕微鏡用ガス反応試料ホルダ | 2014年 8月20日 | |
| 特許 5576749 | Ｘ線検出システム | 2014年 8月20日 | |
| 特許 5563899 | オージェ像収集方法及び装置 | 2014年 7月30日 | |
| 特許 5563995 | 電子プローブマイクロアナライザにおけるデータ処理方法及び電子プローブマイクロアナライザ | 2014年 7月30日 | |
| 特許 5563935 | Ｘ線検出システム | 2014年 7月30日 | |
| 特許 5555653 | 電子顕微鏡および３次元像構築方法 | 2014年 7月23日 | |
| 特許 5555582 | タンデム型飛行時間型質量分析法および装置 | 2014年 7月23日 | |
| 特許 5545869 | 荷電粒子線の軸合わせ方法及び荷電粒子線装置 | 2014年 7月 9日 |
50 件中 1-15 件を表示
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5632992 5623719 5623755 5606726 5606723 5586418 5576810 5576825 5576749 5563899 5563995 5563935 5555653 5555582 5545869
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