日本電子株式会社
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■ 2011年 出願公開件数ランキング 第547位 66件
（
2010年：第406位 107件）
■ 2011年 特許取得件数ランキング 第532位 60件
（
2010年：第555位 49件）
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日本電子株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特開 2011-129443 | グリッドを用いた試料ホルダ | 2011年 6月30日 | |
| 特開 2011-129444 | 電子顕微鏡の可動絞り位置制御方法及び装置 | 2011年 6月30日 | |
| 特開 2011-128478 | マスクパターン描画方法及び装置 | 2011年 6月30日 | |
| 特開 2011-129500 | トモグラフィー法を用いた試料の３次元画像取得方法及び装置 | 2011年 6月30日 | |
| 特開 2011-124099 | 荷電粒子線装置のエミッタ、その製造方法、および当該エミッタを備える荷電粒子線装置 | 2011年 6月23日 | |
| 特開 2011-119140 | 電子ビーム装置 | 2011年 6月16日 | |
| 特開 2011-117784 | 試料ホルダ及び試料取り付け取り外し治具 | 2011年 6月16日 | |
| 特開 2011-102714 | 四重極質量分析装置におけるスペクトル信号補正方法 | 2011年 5月26日 | |
| 特開 2011-103273 | エネルギーフィルタを用いた電子エネルギー損失分光装置 | 2011年 5月26日 | |
| 特開 2011-99736 | 四極子核のＮＭＲ測定方法 | 2011年 5月19日 | |
| 特開 2011-99735 | 磁場発生装置および磁気共鳴装置 | 2011年 5月19日 | |
| 特開 2011-95126 | 自動分析装置の運用切り替えシステム | 2011年 5月12日 | |
| 特開 2011-90844 | 試料加工方法及び試料加工装置 | 2011年 5月 6日 | |
| 特開 2011-89158 | 膜形成装置 | 2011年 5月 6日 | |
| 特開 2011-89957 | プローブ振動制御装置 | 2011年 5月 6日 |
66 件中 31-45 件を表示
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2011-129443 2011-129444 2011-128478 2011-129500 2011-124099 2011-119140 2011-117784 2011-102714 2011-103273 2011-99736 2011-99735 2011-95126 2011-90844 2011-89158 2011-89957
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