日本電子株式会社
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（
2013年：第742位 45件）
■ 2014年 特許取得件数ランキング 第635位 50件
（
2013年：第494位 71件）
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日本電子株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特開 2014-85169 | 自動分析装置 | 2014年 5月12日 | |
| 特開 2014-75409 | マルチ荷電粒子ビーム描画装置 | 2014年 4月24日 | |
| 特開 2014-71092 | 試料分析装置 | 2014年 4月21日 | |
| 特開 2014-63640 | 走査電子顕微鏡 | 2014年 4月10日 | |
| 特開 2014-59967 | マスイメージング装置及びマスイメージング装置の制御方法 | 2014年 4月 3日 | |
| 特開 2014-59966 | 飛行時間型質量分析計及び飛行時間型質量分析計の制御方法 | 2014年 4月 3日 | |
| 特開 2014-59192 | 蛍光顕微装置および方法 | 2014年 4月 3日 | |
| 特開 2014-53081 | 試料観察方法および電子顕微鏡 | 2014年 3月20日 | |
| 特開 2014-49403 | 飛行時間型質量分析法 | 2014年 3月17日 | |
| 特開 2014-44119 | 電子顕微鏡観察用染色剤および電子顕微鏡観察用試料の染色方法 | 2014年 3月13日 | |
| 特開 2014-21048 | サンプルプレートおよび質量分析装置 | 2014年 2月 3日 |
41 件中 31-41 件を表示
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2014-85169 2014-75409 2014-71092 2014-63640 2014-59967 2014-59966 2014-59192 2014-53081 2014-49403 2014-44119 2014-21048
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