特許ランキング - 出願人詳細情報 -

日本電子株式会社

※ ログインすれば出願人(日本電子株式会社)をリストに登録できます。ログインについて

　■　2012年出願公開件数ランキング　　　第544位　64件（2011年：第547位　66件）

　■　2012年特許取得件数ランキング　　　第485位　70件（2011年：第532位　60件）

（ランキング更新日：2024年11月15日）筆頭出願人である出願のみカウントしています

2011年 2013年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年

日本電子株式会社の商標一覧

公報番号	発明の名称	公報発行日	備考
特開 2012-57953	回転テーブル	2012年 3月22日
特開 2012-60054	荷電粒子ビーム描画装置の描画方法及び荷電粒子ビーム描画装置	2012年 3月22日
特開 2012-54169	走査電子顕微鏡及び走査電子顕微鏡の対物レンズの用途切替方法	2012年 3月15日
特開 2012-49120	荷電粒子ビーム装置	2012年 3月 8日
特開 2012-47689	走査型プローブ顕微鏡	2012年 3月 8日
特開 2012-38676	電子顕微鏡の引っ張り・圧縮ホルダ機構	2012年 2月23日
特開 2012-38139	位置制御装置および位置制御方法	2012年 2月23日
特開 2012-32004	除振機構	2012年 2月16日
特開 2012-26827	Ｘ線検出装置	2012年 2月 9日
特開 2012-28105	分析電子顕微鏡のシャッタ機構	2012年 2月 9日
特開 2012-18769	電子顕微鏡における焦点合わせ方法および電子顕微鏡	2012年 1月26日
特開 2012-19066	荷電粒子ビーム描画方法及び装置	2012年 1月26日
特開 2012-18076	走査プローブ顕微鏡を用いた試料の磁気力測定方法及び装置	2012年 1月26日
再表 2010-21359	レジスト感度向上方法	2012年 1月26日	共同出願
特開 2012-15064	荷電粒子ビーム装置の非点収差補正方法及び該補正方法を用いた荷電粒子ビーム装置	2012年 1月19日

64 件中 46-60 件を表示

※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。

このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー

2012-57953 2012-60054 2012-54169 2012-49120 2012-47689 2012-38676 2012-38139 2012-32004 2012-26827 2012-28105 2012-18769 2012-19066 2012-18076 2010-21359 2012-15064

※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。日本電子株式会社の知財の動向チェックに便利です。

ログインについて

ランキング一覧に戻る

特許ランキング

2024年特許出願件数	2024年特許取得件数
2023年特許出願件数	2023年特許取得件数
2022年特許出願件数	2022年特許取得件数
2021年特許出願件数	2021年特許取得件数
2020年特許出願件数	2020年特許取得件数
2019年特許出願件数	2019年特許取得件数
2018年特許出願件数	2018年特許取得件数
2017年特許出願件数	2017年特許取得件数
2016年特許出願件数	2016年特許取得件数
2015年特許出願件数	2015年特許取得件数
2014年特許出願件数	2014年特許取得件数
2013年特許出願件数	2013年特許取得件数
2011年特許出願件数	2011年特許取得件数