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株式会社アドバンテスト

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  2012年 出願公開件数ランキング    第193位 230件 上昇2011年:第199位 212件)

  2012年 特許取得件数ランキング    第199位 196件 下降2011年:第170位 211件)

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公報番号発明の名称公報発行日備考
再表 2010-61482 試験装置、シリアル伝送システム、プログラム、および、記録媒体 2012年 4月19日
特開 2012-73166 試験装置および試験方法 2012年 4月12日
再表 2010-58441 試験装置、試験方法、および、プログラム 2012年 4月12日
特開 2012-68091 試験装置および調整方法 2012年 4月 5日
特開 2012-64973 プローブカード保持装置 2012年 3月29日
再表 2010-52781 着脱装置、コンタクトアーム、電子部品ハンドリング装置、及び電子部品保持部の取外方法 2012年 3月29日
再表 2010-52780 着脱装置、コンタクトアーム、電子部品ハンドリング装置および保持ユニット 2012年 3月29日
再表 2010-52761 コネクタ着脱装置およびテストヘッド 2012年 3月29日
再表 2010-50133 試験装置、回路モジュール、および、製造方法 2012年 3月29日
再表 2010-50132 試験装置および回路モジュール 2012年 3月29日
再表 2010-50100 デバイス、試験装置及び試験方法 2012年 3月29日
特開 2012-60186 レーザ発振器 2012年 3月22日 共同出願
特開 2012-58050 試験装置 2012年 3月22日
再表 2010-47134 確定成分モデル判定装置、確定成分モデル判定方法、プログラム、記憶媒体、試験システム、および、電子デバイス 2012年 3月22日
再表 2010-47128 確定成分モデル識別装置、確定成分モデル識別方法、プログラム、記憶媒体、試験システム、および、電子デバイス 2012年 3月22日

230 件中 151-165 件を表示

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2010-61482 2012-73166 2010-58441 2012-68091 2012-64973 2010-52781 2010-52780 2010-52761 2010-50133 2010-50132 2010-50100 2012-60186 2012-58050 2010-47134 2010-47128

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