特許ランキング - 出願人詳細情報 -

株式会社アドバンテスト

※ ログインすれば出願人(株式会社アドバンテスト)をリストに登録できます。ログインについて

　■　2012年出願公開件数ランキング　　　第193位　230件（2011年：第199位　212件）

　■　2012年特許取得件数ランキング　　　第199位　196件（2011年：第170位　211件）

（ランキング更新日：2025年2月28日）筆頭出願人である出願のみカウントしています

2011年 2013年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年 2025年

株式会社アドバンテストの商標一覧

公報番号	発明の名称	公報発行日	備考
特開 2012-44191	電子銃及び電子ビーム露光装置	2012年 3月 1日	共同出願
再表 2010-41324	回路ボード、回路ボードアッセンブリ及び誤挿入検出装置	2012年 3月 1日
再表 2010-41317	インターフェイス部材、テスト部ユニットおよび電子部品試験装置	2012年 3月 1日
再表 2010-41293	直交振幅変調器、変調方法およびそれらを利用した半導体装置および試験装置	2012年 3月 1日
特開 2012-37399	パターン測定装置及びパターン測定方法	2012年 2月23日
特開 2012-37350	デバイスインターフェイス装置および試験装置	2012年 2月23日
再表 2010-35646	周波数特性測定装置	2012年 2月23日
再表 2010-38387	回路設計方法、回路設計システム及び記録媒体	2012年 2月23日
再表 2010-38257	プログラマブルデバイス、およびデータ書込方法	2012年 2月23日
特開 2012-34208	信号処理装置および試験装置	2012年 2月16日
特開 2012-32327	試験装置及び試験方法	2012年 2月16日
再表 2010-35450	試験モジュール、試験装置および試験方法	2012年 2月16日
再表 2010-35447	試験モジュール、試験装置および試験方法	2012年 2月16日
再表 2010-35335	テスト部ユニットおよびテストヘッド	2012年 2月16日
再表 2010-35309	遅延回路およびそれを用いたタイミング発生器および試験装置	2012年 2月16日

230 件中 181-195 件を表示

... 13

※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。

このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー

2012-44191 2010-41324 2010-41317 2010-41293 2012-37399 2012-37350 2010-35646 2010-38387 2010-38257 2012-34208 2012-32327 2010-35450 2010-35447 2010-35335 2010-35309

※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。株式会社アドバンテストの知財の動向チェックに便利です。

ログインについて

ランキング一覧に戻る

特許ランキング

2025年特許出願件数	2025年特許取得件数
2024年特許出願件数	2024年特許取得件数
2023年特許出願件数	2023年特許取得件数
2022年特許出願件数	2022年特許取得件数
2021年特許出願件数	2021年特許取得件数
2020年特許出願件数	2020年特許取得件数
2019年特許出願件数	2019年特許取得件数
2018年特許出願件数	2018年特許取得件数
2017年特許出願件数	2017年特許取得件数
2016年特許出願件数	2016年特許取得件数
2015年特許出願件数	2015年特許取得件数
2014年特許出願件数	2014年特許取得件数
2013年特許出願件数	2013年特許取得件数
2011年特許出願件数	2011年特許取得件数