特許ランキング - 出願人詳細情報 -

株式会社アドバンテスト

※ ログインすれば出願人(株式会社アドバンテスト)をリストに登録できます。ログインについて

　■　2012年出願公開件数ランキング　　　第193位　230件（2011年：第199位　212件）

　■　2012年特許取得件数ランキング　　　第199位　196件（2011年：第170位　211件）

（ランキング更新日：2025年2月28日）筆頭出願人である出願のみカウントしています

2011年 2013年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年 2025年

株式会社アドバンテストの商標一覧

公報番号	発明の名称	公報発行日
特開 2012-33634	製造方法および製造装置	2012年 2月16日
特開 2012-21981	複合的に時間測定を行う方法および装置	2012年 2月 2日
特開 2012-21820	試験装置および試験方法	2012年 2月 2日
再表 2010-32440	試験装置およびドメイン間同期方法	2012年 2月 2日
再表 2010-29772	試験装置および試験方法	2012年 2月 2日
再表 2010-29746	試験モジュールおよび試験方法	2012年 2月 2日
再表 2010-29709	試験装置、試験方法、回路システム、ならびに電源装置、電源評価装置、電源環境のエミュレート方法	2012年 2月 2日
再表 2010-26765	試験装置、及び試験方法	2012年 2月 2日
再表 2010-29618	メモリデバイス、メモリデバイスの製造方法、およびデータ書込方法	2012年 2月 2日
特開 2012-19412	スイッチ回路および試験装置	2012年 1月26日
再表 2010-26642	試験装置、送信装置、受信装置、試験方法、送信方法、および受信方法	2012年 1月26日
再表 2010-26641	試験装置および試験方法	2012年 1月26日
再表 2010-26616	波形発生器およびそれを用いた試験装置	2012年 1月26日
再表 2010-23924	相互接続基板、スキュー測定方法および試験装置	2012年 1月26日
再表 2010-21131	試験装置および試験方法	2012年 1月26日

230 件中 196-210 件を表示

... 14

※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。

このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー

2012-33634 2012-21981 2012-21820 2010-32440 2010-29772 2010-29746 2010-29709 2010-26765 2010-29618 2012-19412 2010-26642 2010-26641 2010-26616 2010-23924 2010-21131

※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。株式会社アドバンテストの知財の動向チェックに便利です。

ログインについて

ランキング一覧に戻る

特許ランキング

2025年特許出願件数	2025年特許取得件数
2024年特許出願件数	2024年特許取得件数
2023年特許出願件数	2023年特許取得件数
2022年特許出願件数	2022年特許取得件数
2021年特許出願件数	2021年特許取得件数
2020年特許出願件数	2020年特許取得件数
2019年特許出願件数	2019年特許取得件数
2018年特許出願件数	2018年特許取得件数
2017年特許出願件数	2017年特許取得件数
2016年特許出願件数	2016年特許取得件数
2015年特許出願件数	2015年特許取得件数
2014年特許出願件数	2014年特許取得件数
2013年特許出願件数	2013年特許取得件数
2011年特許出願件数	2011年特許取得件数