特許ランキング - 出願人詳細情報 -

株式会社アドバンテスト

※ ログインすれば出願人(株式会社アドバンテスト)をリストに登録できます。ログインについて

　■　2012年出願公開件数ランキング　　　第193位　230件（2011年：第199位　212件）

　■　2012年特許取得件数ランキング　　　第199位　196件（2011年：第170位　211件）

（ランキング更新日：2024年11月25日）筆頭出願人である出願のみカウントしています

2011年 2013年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年

株式会社アドバンテストの商標一覧

公報番号	発明の名称	公報発行日
特開 2012-221512	試験装置	2012年11月12日
特開 2012-221521	メモリリペア解析装置、メモリリペア解析方法、および試験装置	2012年11月12日
再表 2010-137137	バルブ装置及び電子部品の温度調整装置	2012年11月12日
再表 2010-137058	受信装置、試験装置、受信方法および試験方法	2012年11月12日
特開 2012-222090	電子ビーム露光装置及び露光マスク	2012年11月12日
特開 2012-222068	電子ビーム露光装置及び電子ビーム露光方法	2012年11月12日
再表 2010-131762	収容具、収容具配置方法および測定方法	2012年11月 8日
再表 2010-131763	電磁波測定装置、測定方法、プログラム、記録媒体	2012年11月 8日
再表 2010-131286	受信装置、試験装置、受信方法および試験方法	2012年11月 1日
再表 2010-123147	収容具、収容具配置方法および測定方法	2012年10月25日
再表 2010-125605	配線基板ユニットおよび試験装置	2012年10月25日
再表 2010-125610	クロック生成装置、試験装置およびクロック生成方法	2012年10月25日
再表 2010-125793	試験装置および試験方法	2012年10月25日
再表 2010-122748	補正装置、確率密度関数測定装置、ジッタ測定装置、ジッタ分離装置、電子デバイス、補正方法、プログラム、および、記録媒体	2012年10月25日
特開 2012-208093	電力供給装置および試験装置	2012年10月25日

230 件中 31-45 件を表示

※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。

このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー

2012-221512 2012-221521 2010-137137 2010-137058 2012-222090 2012-222068 2010-131762 2010-131763 2010-131286 2010-123147 2010-125605 2010-125610 2010-125793 2010-122748 2012-208093

※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。株式会社アドバンテストの知財の動向チェックに便利です。

ログインについて

ランキング一覧に戻る

特許ランキング

2024年特許出願件数	2024年特許取得件数
2023年特許出願件数	2023年特許取得件数
2022年特許出願件数	2022年特許取得件数
2021年特許出願件数	2021年特許取得件数
2020年特許出願件数	2020年特許取得件数
2019年特許出願件数	2019年特許取得件数
2018年特許出願件数	2018年特許取得件数
2017年特許出願件数	2017年特許取得件数
2016年特許出願件数	2016年特許取得件数
2015年特許出願件数	2015年特許取得件数
2014年特許出願件数	2014年特許取得件数
2013年特許出願件数	2013年特許取得件数
2011年特許出願件数	2011年特許取得件数