特許ランキング - 出願人詳細情報 -

株式会社アドバンテスト

※ ログインすれば出願人(株式会社アドバンテスト)をリストに登録できます。ログインについて

　■　2011年出願公開件数ランキング　　　第199位　212件（2010年：第235位　206件）

　■　2011年特許取得件数ランキング　　　第170位　211件（2010年：第155位　204件）

（ランキング更新日：2024年11月25日）筆頭出願人である出願のみカウントしています

2012年 2013年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年

株式会社アドバンテストの商標一覧

公報番号	発明の名称	公報発行日
再表 2009-147722	試験用ウエハ、試験システム、および、半導体ウエハ	2011年10月20日
再表 2009-147721	試験用ウエハユニット、および、試験システム	2011年10月20日
再表 2009-147724	試験用ウエハユニットおよび試験システム	2011年10月20日
再表 2009-147786	試験装置および試験方法	2011年10月20日
再表 2009-147797	試験装置、伝送回路、試験装置の制御方法および伝送回路の制御方法	2011年10月20日
再表 2009-147717	プローブウエハ、プローブ装置および試験システム	2011年10月20日
再表 2009-147804	プローブ装置製造方法	2011年10月20日
再表 2009-147723	試験システムおよび試験用基板ユニット	2011年10月20日
特開 2011-211895	ワイヤレス給電装置、ワイヤレス受電装置およびワイヤレス給電システム、ワイヤレス給電方法	2011年10月20日
再表 2009-147719	試験システム	2011年10月20日
再表 2009-147810	試験システム、電子デバイス、および、試験装置	2011年10月20日
再表 2009-147720	半導体ウエハ、半導体回路、試験用基板、および、試験システム	2011年10月20日
特開 2011-205170	フィルタ生成装置、プログラムおよびフィルタ生成方法	2011年10月13日
特開 2011-199772	変調装置、設定方法および試験装置	2011年10月 6日
特表 2011-526357	電子部品の温度制御装置	2011年10月 6日

212 件中 46-60 件を表示

※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。

このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー

2009-147722 2009-147721 2009-147724 2009-147786 2009-147797 2009-147717 2009-147804 2009-147723 2011-211895 2009-147719 2009-147810 2009-147720 2011-205170 2011-199772 2011-526357

※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。株式会社アドバンテストの知財の動向チェックに便利です。

ログインについて

ランキング一覧に戻る

特許ランキング

2024年特許出願件数	2024年特許取得件数
2023年特許出願件数	2023年特許取得件数
2022年特許出願件数	2022年特許取得件数
2021年特許出願件数	2021年特許取得件数
2020年特許出願件数	2020年特許取得件数
2019年特許出願件数	2019年特許取得件数
2018年特許出願件数	2018年特許取得件数
2017年特許出願件数	2017年特許取得件数
2016年特許出願件数	2016年特許取得件数
2015年特許出願件数	2015年特許取得件数
2014年特許出願件数	2014年特許取得件数
2013年特許出願件数	2013年特許取得件数
2012年特許出願件数	2012年特許取得件数