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株式会社アドバンテスト
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■ 2012年 出願公開件数ランキング 第193位 230件
（
2011年：第199位 212件）
■ 2012年 特許取得件数ランキング 第199位 196件
（
2011年：第170位 211件）
（ランキング更新日：2025年4月15日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社アドバンテストの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特開 2012-198240 | プッシャ、プッシャユニットおよび半導体試験装置 | 2012年10月18日 | |
| 特開 2012-196117 | ワイヤレス給電装置、受電装置および給電システム | 2012年10月11日 | |
| 特開 2012-191412 | Ａ／Ｄコンバータの試験装置および試験方法 | 2012年10月 4日 | |
| 特開 2012-191268 | ワイヤレス電力送信機、無線タグおよびワイヤレス給電システム | 2012年10月 4日 | |
| 再表 2010-109647 | マルチコラム電子線描画用マスク保持装置及びマルチコラム電子線描画装置 | 2012年 9月27日 | |
| 再表 2010-109655 | 電子線描画装置及び電子線描画方法 | 2012年 9月27日 | |
| 再表 2010-109739 | 製造装置、製造方法およびパッケージデバイス | 2012年 9月27日 | |
| 再表 2010-109740 | 試験装置、試験方法および製造方法 | 2012年 9月27日 | |
| 再表 2010-109847 | 試験装置、キャリブレーション方法、および、プログラム | 2012年 9月27日 | |
| 特開 2012-185036 | 試験装置 | 2012年 9月27日 | |
| 再表 2010-106621 | マルチコラム電子線描画装置及びその電子線軌道調整方法 | 2012年 9月20日 | |
| 再表 2010-109574 | ステージ装置及びステージクリーニング方法 | 2012年 9月20日 | |
| 再表 2010-103786 | 試験装置および試験方法 | 2012年 9月13日 | |
| 特開 2012-177654 | パターン高さ測定装置及びパターン高さ測定方法 | 2012年 9月13日 | 共同出願 |
| 特開 2012-174804 | 半導体装置、試験装置、および製造方法 | 2012年 9月10日 |
230 件中 46-60 件を表示
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2012-198240 2012-196117 2012-191412 2012-191268 2010-109647 2010-109655 2010-109739 2010-109740 2010-109847 2012-185036 2010-106621 2010-109574 2010-103786 2012-177654 2012-174804
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