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■ 2012年 出願公開件数ランキング 第193位 230件 (2011年:第199位 212件)
■ 2012年 特許取得件数ランキング 第199位 196件 (2011年:第170位 211件)
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特開 2012-174804 | 半導体装置、試験装置、および製造方法 | 2012年 9月10日 | |
特開 2012-173240 | 試験装置用の電源装置およびそれを用いた試験装置 | 2012年 9月10日 | |
特開 2012-174313 | 試験装置 | 2012年 9月10日 | |
特開 2012-169117 | ソケット | 2012年 9月 6日 | 共同出願 |
再表 2010-100674 | イコライザ回路およびそれを用いた試験装置 | 2012年 9月 6日 | |
再表 2010-97841 | 試験装置 | 2012年 8月30日 | |
再表 2010-95378 | 出力装置および試験装置 | 2012年 8月23日 | |
特開 2012-160968 | デジタル/アナログ変換器 | 2012年 8月23日 | |
特開 2012-159490 | 測定装置 | 2012年 8月23日 | |
特開 2012-154921 | リーク補償された電子スイッチ | 2012年 8月16日 | |
特開 2012-156709 | 信号発生装置および試験装置 | 2012年 8月16日 | |
再表 2010-92800 | 試験装置および試験方法 | 2012年 8月16日 | |
特開 2012-156995 | ATEのための高速、高分解能及び高精度な電圧源/AWGシステム | 2012年 8月16日 | |
再表 2010-92672 | 半導体ウェハ試験装置 | 2012年 8月16日 | |
再表 2010-89996 | 試験装置および試験方法 | 2012年 8月 9日 |
230 件中 61-75 件を表示
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2012-174804 2012-173240 2012-174313 2012-169117 2010-100674 2010-97841 2010-95378 2012-160968 2012-159490 2012-154921 2012-156709 2010-92800 2012-156995 2010-92672 2010-89996
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11月29日(金) - 東京 港区
11月29日(金) - 茨城 ひたちなか市
11月30日(土) -
12月1日(日) -
12月1日(日) -
11月29日(金) - 東京 港区
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12月4日(水) - 東京 千代田区
12月4日(水) - 東京 港区
12月4日(水) -
12月4日(水) - 大阪 大阪市
12月4日(水) -
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12月5日(木) - 東京 港区
12月5日(木) -
12月5日(木) -
12月5日(木) - 大阪 大阪市
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12月6日(金) - 愛知 豊橋市花田町
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12月2日(月) - 滋賀 草津市
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