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株式会社アドバンテスト

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株式会社アドバンテストの商標一覧

公報番号	発明の名称	公報発行日	備考
再表 2009-144843	通信システム、試験装置および試験方法	2011年 9月29日
再表 2009-141849	パターン発生器	2011年 9月22日
特開 2011-187638	レーザ光パルスの位相制御装置	2011年 9月22日
再表 2009-141848	パターン発生器およびそれを用いたメモリの試験装置	2011年 9月22日
特開 2011-188436	測定装置、測定方法およびプログラム	2011年 9月22日
再表 2009-139070	製造方法および試験用ウエハユニット	2011年 9月15日
特開 2011-181691	パルスレーザ、光周波数安定化レーザ、測定装置および測定方法	2011年 9月15日	共同出願
再表 2009-136441	電子線描画装置及び電子線描画方法	2011年 9月 1日
再表 2009-136427	デジタル変調信号の試験装置、ならびにデジタル変調器、変調方法およびそれを用いた半導体装置	2011年 9月 1日
特開 2011-172208	出力装置および試験装置	2011年 9月 1日
特開 2011-169594	マルチストローブ回路およびそのキャリブレーション方法および試験装置	2011年 9月 1日
再表 2009-136428	デジタル変調信号の試験装置および試験方法	2011年 9月 1日
特開 2011-163807	電子部品試験装置	2011年 8月25日
特開 2011-164039	信号発生器およびそれを用いた試験装置	2011年 8月25日
特開 2011-165960	テストヘッド及びそれを備えた半導体ウェハ試験装置	2011年 8月25日

212 件中 76-90 件を表示

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2009-144843 2009-141849 2011-187638 2009-141848 2011-188436 2009-139070 2011-181691 2009-136441 2009-136427 2011-172208 2011-169594 2009-136428 2011-163807 2011-164039 2011-165960

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