※ ログインすれば出願人(株式会社堀場製作所)をリストに登録できます。ログインについて
■ 2011年 出願公開件数ランキング 第676位 49件
(2010年:第455位 94件)
■ 2011年 特許取得件数ランキング 第494位 65件
(2010年:第346位 88件)
(ランキング更新日:2025年2月21日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
2012年 2013年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年 2025年
公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特許 4678676 | 物理現象または化学現象の測定方法または測定装置 | 2011年 4月27日 | |
特許 4667704 | 薄膜堆積方法とその装置および薄膜堆積方法に用いる混合ガス供給装置 | 2011年 4月13日 | |
特許 4659860 | 計測方法、分光エリプソメータ、プログラム、及び、製造装置 | 2011年 3月30日 | |
特許 4659859 | 計測方法、分光エリプソメータ、プログラム、製造装置及び成膜装置 | 2011年 3月30日 | |
特許 4658059 | 整流器 | 2011年 3月23日 | |
特許 4658917 | 半導体製造システム用分析装置 | 2011年 3月23日 | |
特許 4657838 | イオン濃度測定用複合電極及びイオン濃度モニター | 2011年 3月23日 | |
特許 4652786 | 排気ガス分析装置及び混合システム | 2011年 3月16日 | |
特許 4653703 | FETセンサ | 2011年 3月16日 | |
特許 4648739 | 分析装置及び校正方法 | 2011年 3月 9日 | |
特許 4646761 | ダイヤモンド電極及びダイヤモンド電極の表面改質方法 | 2011年 3月 9日 | |
特許 4641444 | 物理現象または化学現象に係るポテンシャル測定装置 | 2011年 3月 2日 | |
特許 4642223 | 環境負荷低減システム | 2011年 3月 2日 | |
特許 4633296 | サーモパイルセンサ | 2011年 2月16日 | |
特許 4627022 | 測光分析計 | 2011年 2月 9日 | 共同出願 |
65 件中 46-60 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー
4678676 4667704 4659860 4659859 4658059 4658917 4657838 4652786 4653703 4648739 4646761 4641444 4642223 4633296 4627022
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。株式会社堀場製作所の知財の動向チェックに便利です。
2月21日(金) - 東京 千代田区
2月21日(金) - 東京 大田
パテントマップを用いた知財戦略の策定方法 -自社が勝つパテントマップ作成と それを活用した開発戦略・知財戦略の実践方法- <東京会場受講(対面)/Zoomオンライン受講 選択可> <見逃し視聴選択可>
2月21日(金) -
2月22日(土) - 東京 板橋区
2月21日(金) - 東京 千代田区
2月25日(火) -
2月25日(火) -
2月26日(水) -
2月26日(水) -
2月26日(水) - 東京 港区
2月26日(水) -
2月26日(水) - 千葉 船橋市
2月27日(木) -
2月27日(木) -
2月27日(木) - 東京 港区
2月27日(木) -
2月27日(木) - 東京 千代田区
2月25日(火) -
〒951-8152 新潟県新潟市中央区信濃町21番7号 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
〒541-0046 大阪市中央区平野町2丁目2番9号 ビル皿井2階 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
愛知県名古屋市中区平和一丁目15-30 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング