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■ 2012年 出願公開件数ランキング 第759位 41件
(2011年:第1563位 15件)
■ 2012年 特許取得件数ランキング 第926位 32件
(2011年:第903位 30件)
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特開 2012-49123 | 工業用X線発生装置 | 2012年 3月 8日 | |
特開 2012-32372 | X線分析方法およびその装置 | 2012年 2月16日 | 共同出願 |
特開 2012-33411 | 電子放出装置の電流制御装置 | 2012年 2月16日 | |
特開 2012-32164 | X線回折方法及びそれを用いた可搬型X線回折装置 | 2012年 2月16日 | |
特開 2012-32292 | 半導体X線検出器 | 2012年 2月16日 | |
特開 2012-26797 | 試料搬送装置、トレー、及びX線測定装置 | 2012年 2月 9日 | |
特開 2012-13464 | 割込み測定可能なX線測定装置 | 2012年 1月19日 | |
特開 2012-13515 | 減衰回路 | 2012年 1月19日 | |
特開 2012-13606 | 蛍光X線分析装置および方法 | 2012年 1月19日 | |
特開 2012-13463 | 波長分別型X線回折装置 | 2012年 1月19日 | |
特開 2012-7928 | X線分析装置および発光分析装置 | 2012年 1月12日 |
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2012-49123 2012-32372 2012-33411 2012-32164 2012-32292 2012-26797 2012-13464 2012-13515 2012-13606 2012-13463 2012-7928
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パテントマップを用いた知財戦略の策定方法 -自社が勝つパテントマップ作成と それを活用した開発戦略・知財戦略の実践方法- <東京会場受講(対面)/Zoomオンライン受講 選択可> <見逃し視聴選択可>
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