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株式会社リガク

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  2012年 出願公開件数ランキング    第759位 41件 上昇2011年:第1563位 15件)

  2012年 特許取得件数ランキング    第926位 32件 下降2011年:第903位 30件)

(ランキング更新日:2025年6月6日)筆頭出願人である出願のみカウントしています

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公報番号発明の名称公報発行日備考
特許 4958258 ガス分析装置 2012年 6月20日 共同出願
特許 4947665 X線回折定量装置 2012年 6月 6日
特許 4942114 磁気装置 2012年 5月30日
特許 4939359 蛍光X線分析システムおよびそのシステムに用いるプログラム 2012年 5月23日
特許 4914514 蛍光X線分析装置および方法 2012年 4月11日
特許 4909154 結晶粒の極点図測定方法およびその装置 2012年 4月 4日
特許 4908303 X線単結晶方位測定装置およびその測定方法 2012年 4月 4日
特許 4908119 蛍光X線分析装置 2012年 4月 4日
特許 4906038 X線分析装置の試料支持装置及びX線分析装置 2012年 3月28日
特許 4885490 磁性流体シール装置 2012年 2月29日
特許 4884553 X線分析装置および方法 2012年 2月29日
特許 4880077 X線検出信号処理装置および方法 2012年 2月22日
特許 4861283 X線回折装置およびX線回折方法 2012年 1月25日
特許 4861284 X線回折装置およびX線回折方法 2012年 1月25日
特許 4860418 X線光学系 2012年 1月25日

32 件中 16-30 件を表示

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4958258 4947665 4942114 4939359 4914514 4909154 4908303 4908119 4906038 4885490 4884553 4880077 4861283 4861284 4860418

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