株式会社リガク
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■ 2014年 出願公開件数ランキング 第1122位 24件
（
2013年：第890位 35件）
■ 2014年 特許取得件数ランキング 第702位 43件
（
2013年：第1387位 18件）
（ランキング更新日：2025年2月14日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社リガクの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5472986 | 測角器、測角器の製造方法及びＸ線分析装置 | 2014年 4月16日 | |
| 特許 5467293 | Ｘ線分析装置 | 2014年 4月 9日 | |
| 特許 5464665 | Ｘ線結晶方位測定装置及びＸ線結晶方位測定方法 | 2014年 4月 9日 | |
| 特許 5464668 | Ｘ線発生装置 | 2014年 4月 9日 | |
| 特許 5457709 | Ｘ線発生装置及びＸ線計測装置 | 2014年 4月 2日 | |
| 特許 5457971 | 半導体Ｘ線検出器 | 2014年 4月 2日 | |
| 特許 5451900 | 放射線検出器 | 2014年 3月26日 | |
| 特許 5455792 | Ｘ線分析装置 | 2014年 3月26日 | |
| 特許 5437180 | 波長分別型Ｘ線回折装置 | 2014年 3月12日 | |
| 特許 5435389 | グロー放電発光分光分析用試料容器およびそれを備えたグロー放電発光分光分析装置 | 2014年 3月 5日 | |
| 特許 5412649 | 蛍光Ｘ線分析装置 | 2014年 2月12日 | |
| 特許 5391136 | 放射線画像読取装置および画像記録体 | 2014年 1月15日 | |
| 特許 5391087 | ３次元ＣＴ測定装置 | 2014年 1月15日 |
43 件中 31-43 件を表示
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5472986 5467293 5464665 5464668 5457709 5457971 5451900 5455792 5437180 5435389 5412649 5391136 5391087
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特許ランキング
2月17日(月) - 大阪 大阪市
（オンライン参加可）体験談から学ぶ知的財産権 その時どうする？～海外で商標権がバッティング？オープンファクトリーの知財リスク？～
2月18日(火) -
2月19日(水) - 東京 港区
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2月20日(木) -
2月20日(木) -
2月20日(木) - 東京 千代田区
2月21日(金) - 東京 千代田区
2月21日(金) - 東京 大田
パテントマップを用いた知財戦略の策定方法 －自社が勝つパテントマップ作成と それを活用した開発戦略・知財戦略の実践方法－ ＜東京会場受講（対面）／Zoomオンライン受講 選択可＞ ＜見逃し視聴選択可＞
2月21日(金) -
2月22日(土) - 東京 板橋区
2月17日(月) - 大阪 大阪市
（オンライン参加可）体験談から学ぶ知的財産権 その時どうする？～海外で商標権がバッティング？オープンファクトリーの知財リスク？～
2月25日(火) -
2月25日(火) -
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