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■ 2014年 出願公開件数ランキング 第254位 168件
(2013年:第112位 434件)
■ 2014年 特許取得件数ランキング 第185位 238件
(2013年:第104位 384件)
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特許 5596286 | 熱処理装置 | 2014年 9月24日 | |
特許 5596434 | エッチング方法 | 2014年 9月24日 | |
特許 5591167 | 含水量の測定方法 | 2014年 9月17日 | |
特許 5588757 | In−Se合金粉末、In−Se合金焼結体、Ga−Se合金粉末、Ga−Se合金焼結体、In−Ga−Se合金粉末、In−Ga−Se合金焼結体、Cu−In−Ga−Se合金粉末及びCu−In−Ga−Se合金焼結体の製造方法 | 2014年 9月10日 | |
特許 5586227 | 多孔質シリカ前駆体組成物及びその作製方法、多孔質シリカ膜及びその形成方法、半導体素子、画像表示装置、並びに液晶表示装置 | 2014年 9月10日 | |
特許 5588782 | 薄膜形成装置及び薄膜形成方法 | 2014年 9月10日 | |
特許 5587911 | 積層電極の加工方法 | 2014年 9月10日 | 共同出願 |
特許 5588793 | 液滴塗布基板の製造方法 | 2014年 9月10日 | |
特許 5583935 | インライン型基板処理装置の製造システム及び製造方法 | 2014年 9月 3日 | |
特許 5583580 | 真空処理装置 | 2014年 9月 3日 | |
特許 5583619 | ステージ装置 | 2014年 9月 3日 | |
特許 5583550 | GCIB(ガスクラスターイオンビーム)銃、表面分析装置および表面分析方法 | 2014年 9月 3日 | |
特許 5579848 | 半導体装置、半導体装置を有する液晶表示装置、半導体装置の製造方法 | 2014年 8月27日 | |
特許 5579729 | プラズマエッチング装置 | 2014年 8月27日 | |
特許 5581366 | プラズマ処理装置 | 2014年 8月27日 |
238 件中 46-60 件を表示
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5596286 5596434 5591167 5588757 5586227 5588782 5587911 5588793 5583935 5583580 5583619 5583550 5579848 5579729 5581366
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2月27日(木) -
2月27日(木) - 東京 千代田区
2月25日(火) -
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3月4日(火) -
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