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■ 2012年 出願公開件数ランキング 第347位 119件
(2011年:第260位 156件)
■ 2012年 特許取得件数ランキング 第926位 32件
(2011年:第403位 82件)
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
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再表 2011-7753 | 基板処理装置 | 2012年12月27日 | |
特開 2012-255207 | 真空処理装置 | 2012年12月27日 | |
再表 2011-7546 | イオンビーム発生装置、基板処理装置及び電子デバイスの製造方法 | 2012年12月20日 | |
再表 2010-150590 | 真空加熱冷却装置および磁気抵抗素子の製造方法 | 2012年12月10日 | |
特開 2012-234930 | 基板トレイ及び該トレイを用いた基板処理装置 | 2012年11月29日 | |
再表 2010-143371 | 真空処理装置及び光学部品の製造方法 | 2012年11月22日 | |
再表 2010-143370 | 磁気センサ積層体、その成膜方法、成膜制御プログラムおよび記録媒体 | 2012年11月22日 | |
特開 2012-221596 | 処理装置 | 2012年11月12日 | |
特開 2012-219361 | スピネルフェライト薄膜の製造方法 | 2012年11月12日 | |
再表 2010-126089 | 識別情報設定装置、および識別情報設定方法 | 2012年11月 1日 | |
再表 2010-125669 | 質量分析用イオン検出装置、イオン検出方法、およびイオン検出装置の製造方法 | 2012年10月25日 | |
再表 2010-125810 | 半導体装置およびその製造方法 | 2012年10月25日 | |
再表 2010-119569 | 周波数変換装置、及び周波数変換方法 | 2012年10月22日 | |
特開 2012-197463 | 薄膜の成膜方法 | 2012年10月18日 | |
再表 2010-116560 | 半導体装置の製造方法及びスパッタ装置 | 2012年10月18日 |
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2011-7753 2012-255207 2011-7546 2010-150590 2012-234930 2010-143371 2010-143370 2012-221596 2012-219361 2010-126089 2010-125669 2010-125810 2010-119569 2012-197463 2010-116560
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3月26日(水) - 東京 港区
3月26日(水) -
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3月26日(水) - 東京 港区
4月1日(火) - 山口 山口市
4月1日(火) -
4月2日(水) -
4月2日(水) -
4月4日(金) -
4月1日(火) - 山口 山口市
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