※ ログインすれば出願人(株式会社ミツトヨ)をリストに登録できます。ログインについて
■ 2020年 出願公開件数ランキング 第295位 133件
(
2019年:第245位 178件)
■ 2020年 特許取得件数ランキング 第272位 103件
(
2019年:第241位 114件)
(ランキング更新日:2025年12月5日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
2011年 2012年 2013年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2021年 2022年 2023年 2024年 2025年
| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 6774240 | 形状測定装置の制御方法 | 2020年10月21日 | |
| 特許 6766995 | 位相シフト干渉計 | 2020年10月14日 | |
| 特許 6767045 | 計測用X線CT装置と座標測定機の座標合せ治具 | 2020年10月14日 | |
| 特許 6767753 | クロマティック共焦点センサ及び測定方法 | 2020年10月14日 | |
| 特許 6769764 | 測定プローブ及び測定装置 | 2020年10月14日 | |
| 特許 6770300 | 計測機器用の信号処理回路 | 2020年10月14日 | |
| 特許 6770395 | スライダ装置およびこのスライダ装置を備えた形状測定装置 | 2020年10月14日 | |
| 特許 6762993 | 情報伝達用グローブ | 2020年 9月30日 | |
| 特許 6758765 | 測定方法および測定プログラム | 2020年 9月23日 | |
| 特許 6761312 | 可変焦点距離レンズを含む撮像システムにおける色収差補正 | 2020年 9月23日 | |
| 特許 6752066 | パートプログラム選択装置、産業機械、及びパートプログラム選択方法 | 2020年 9月 9日 | |
| 特許 6752092 | 真円度測定機 | 2020年 9月 9日 | |
| 特許 6754463 | 画像測定装置 | 2020年 9月 9日 | |
| 特許 6746205 | 保持構造 | 2020年 8月26日 | |
| 特許 6746376 | 測定システム及び調整用設定値の切替方法 | 2020年 8月26日 |
103 件中 16-30 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー
6774240 6766995 6767045 6767753 6769764 6770300 6770395 6762993 6758765 6761312 6752066 6752092 6754463 6746205 6746376
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。株式会社ミツトヨの知財の動向チェックに便利です。
12月11日(木) -
12月11日(木) -
12月11日(木) -
12月11日(木) -
12月12日(金) -
12月12日(金) -
12月12日(金) -
12月12日(金) -
12月11日(木) -
12月15日(月) -
12月15日(月) -
12月15日(月) -
12月15日(月) -
12月15日(月) -
12月16日(火) - 東京 千代田区
12月16日(火) -
12月16日(火) -
12月17日(水) -
12月17日(水) -
12月17日(水) -
12月17日(水) -
12月17日(水) -
12月18日(木) -
12月18日(木) -
12月18日(木) -
12月19日(金) - 山口 山口市
12月19日(金) - 東京 千代田区
12月19日(金) - 大阪 大阪市
【大阪会場】 前田知財塾 ~スキルアップ編~ 知財の仕事を、もっと深く、もっと面白く! 第2回 「特許権侵害判断・回避構造の検討」
12月19日(金) - 神奈川 川崎市
12月19日(金) -
12月19日(金) -
12月19日(金) -
12月19日(金) -
12月15日(月) -
〒550-0005 大阪市西区西本町1-8-11 カクタスビル6F 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
大阪市天王寺区上本町六丁目9番10号 青山ビル本館3階 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
東京都港区北青山2丁目7番20号 第二猪瀬ビル3F 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング