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■ 2024年 出願公開件数ランキング 第560位 46件 (2023年:第725位 39件)
■ 2024年 特許取得件数ランキング 第418位 62件 (2023年:第279位 119件)
(ランキング更新日:2024年11月22日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
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特許 7503465 | 光学式測定装置および光学式測定方法 | 2024年 6月20日 | |
特許 7497122 | 光学式変位センサ | 2024年 6月10日 | |
特許 7493960 | 形状測定装置及び形状測定方法 | 2024年 6月 3日 | |
特許 7481195 | 測定器 | 2024年 5月10日 | |
特許 7481397 | 自動測定装置および自動測定装置の制御方法 | 2024年 5月10日 | |
特許 7479222 | 硬さ試験機 | 2024年 5月 8日 | |
特許 7478529 | 焦点距離可変レンズ装置および焦点距離可変レンズ装置の制御方法 | 2024年 5月 7日 | |
特許 7478067 | データ補正装置、測定システム、プログラム、および補正方法 | 2024年 5月 2日 | |
特許 7478073 | 誤差特定装置、誤差特定方法及びプログラム | 2024年 5月 2日 | |
特許 7474076 | 可視化装置及びプログラム | 2024年 4月24日 | |
特許 7474186 | 光電式ロータリエンコーダ | 2024年 4月24日 | |
特許 7471993 | 電磁誘導式エンコーダ | 2024年 4月22日 | |
特許 7469076 | 光学系システム | 2024年 4月16日 | |
特許 7465071 | 変位測定装置、変位測定装置の信号処理部およびその信号処理方法 | 2024年 4月10日 | |
特許 7465080 | 測定器 | 2024年 4月10日 |
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7503465 7497122 7493960 7481195 7481397 7479222 7478529 7478067 7478073 7474076 7474186 7471993 7469076 7465071 7465080
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11月22日(金) -
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11月26日(火) - 東京 港区
11月26日(火) -
11月26日(火) -
11月26日(火) -
11月27日(水) - 東京 港区
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月28日(木) - 東京 港区
11月28日(木) - 島根 松江市
11月28日(木) - 京都 京都市
11月28日(木) -
11月28日(木) - 大阪 大阪市
11月28日(木) -
11月29日(金) - 東京 港区
11月29日(金) - 茨城 ひたちなか市
11月30日(土) -
12月1日(日) -
12月1日(日) -
11月25日(月) -
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