株式会社ミツトヨ
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株式会社ミツトヨの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 7684658 | 形状復元方法及び画像測定装置 | 2025年 5月28日 | |
| 特許 7674090 | レンジ及びスタンドオフ距離を調整可能なＣＰＳ光学ペン | 2025年 5月 9日 | |
| 特許 7672772 | 位置検出システム、位置検出方法及び三次元形状測定システム | 2025年 5月 8日 | |
| 特許 7665265 | 光学式プローブ及び形状測定装置 | 2025年 4月21日 | |
| 特許 7665463 | 座標測定装置用点検ゲージ及び異常判定方法 | 2025年 4月21日 | |
| 特許 7664719 | 位置測定装置 | 2025年 4月18日 | |
| 特許 7664767 | ワークピース画像の監視を含むワークピース検査及び欠陥検出システム | 2025年 4月18日 | |
| 特許 7660041 | 測定装置および穴位置検出方法 | 2025年 4月10日 | |
| 特許 7658756 | 一次元測定機および一次元測定機の制御プログラム | 2025年 4月 8日 | |
| 特許 7656442 | 画像プローブ | 2025年 4月 3日 | |
| 特許 7654453 | 測定装置および測定方法 | 2025年 4月 1日 | |
| 特許 7654490 | 位置制御機構 | 2025年 4月 1日 | |
| 特許 7653783 | 試験表面の高さマップを測定するための方法 | 2025年 3月31日 | |
| 特許 7652615 | テストインジケータ | 2025年 3月27日 | |
| 特許 7649145 | 三次元形状測定装置及び三次元形状測定方法 | 2025年 3月19日 |
41 件中 16-30 件を表示
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7684658 7674090 7672772 7665265 7665463 7664719 7664767 7660041 7658756 7656442 7654453 7654490 7653783 7652615 7649145
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