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ラピスセミコンダクタ株式会社
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■ 2022年 出願公開件数ランキング 第504位 63件
（
2021年：第389位 91件）
■ 2022年 特許取得件数ランキング 第259位 122件
（
2021年：第307位 88件）
（ランキング更新日：2025年8月25日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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ラピスセミコンダクタ株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 7134771 | 通信システム及びプログラム更新方法 | 2022年 9月12日 | |
| 特許 7133319 | 基板回路装置及びプリント配線基板 | 2022年 9月 8日 | |
| 特許 7131875 | 参照電極 | 2022年 9月 6日 | |
| 特許 7127103 | インターフェース回路 | 2022年 8月29日 | |
| 特許 7124005 | 半導体装置 | 2022年 8月23日 | |
| 特許 7121465 | 出力信号生成回路 | 2022年 8月18日 | |
| 特許 7121539 | 表示ドライバ及び半導体装置 | 2022年 8月18日 | |
| 特許 7121816 | 抵抗アレイ、出力バッファ及び半導体装置の製造方法 | 2022年 8月18日 | |
| 特許 7118616 | 半導体装置及び半導体装置の製造方法 | 2022年 8月16日 | |
| 特許 7115723 | 半導体装置および半導体モジュール | 2022年 8月 9日 | |
| 特許 7114767 | 表示装置及びデータドライバ | 2022年 8月 8日 | |
| 特許 7112904 | 半導体メモリのテスト方法 | 2022年 8月 4日 | |
| 特許 7109193 | 操作判定装置及び操作判定方法 | 2022年 7月29日 | |
| 特許 7109223 | 通信装置及び環境変化の検知方法 | 2022年 7月29日 | |
| 特許 7107696 | 半導体装置及び半導体メモリの故障検出方法 | 2022年 7月27日 |
123 件中 31-45 件を表示
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7134771 7133319 7131875 7127103 7124005 7121465 7121539 7121816 7118616 7115723 7114767 7112904 7109193 7109223 7107696
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