アンリツ株式会社
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■ 2019年 出願公開件数ランキング 第440位 84件
（
2018年：第378位 96件）
■ 2019年 特許取得件数ランキング 第407位 64件
（
2018年：第432位 61件）
（ランキング更新日：2025年2月7日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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アンリツ株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 6556493 | 出力測定装置用アダプタセット | 2019年 8月 7日 | |
| 特許 6556889 | スペクトラム拡散クロック発生器及びスペクトラム拡散クロック発生方法とパターン発生器及びパターン発生方法 | 2019年 8月 7日 | |
| 特許 6553128 | 端末試験装置 | 2019年 7月31日 | |
| 特許 6553581 | 光コネクタ端面検査装置とその合焦画像データ取得方法 | 2019年 7月31日 | |
| 特許 6549671 | 信号発生器およびその信号発生方法 | 2019年 7月24日 | |
| 特許 6545213 | ３値信号発生装置及び３値信号発生方法 | 2019年 7月17日 | |
| 特許 6545221 | スペクトラムアナライザ及び信号分析方法 | 2019年 7月17日 | |
| 特許 6539295 | 冷却装置 | 2019年 7月 3日 | |
| 特許 6535046 | 無線端末のアンテナ指向特性測定システムおよび測定方法 | 2019年 6月26日 | |
| 特許 6535358 | 移動端末試験装置とその設定内容表示方法 | 2019年 6月26日 | |
| 特許 6533545 | 測定装置及び測定方法 | 2019年 6月19日 | |
| 特許 6533557 | 測定装置及び測定方法 | 2019年 6月19日 | |
| 特許 6530437 | 光コネクタ端面検査装置とその合焦画像データ取得方法 | 2019年 6月12日 | |
| 特許 6517895 | 端末試験装置及び端末試験方法 | 2019年 5月22日 | |
| 特許 6514629 | 光パルス試験器及び光パルス試験器の表示方法 | 2019年 5月15日 |
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6556493 6556889 6553128 6553581 6549671 6545213 6545221 6539295 6535046 6535358 6533545 6533557 6530437 6517895 6514629
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＜エンジニア(技術者)および研究開発担当(R&D部門)向け＞ 基礎から学ぶ／自分で行うIPランドスケープ®の活用・実践 ＜東京会場受講（対面）／Zoomオンライン受講 選択可＞ ＜見逃し視聴選択可＞
2月14日(金) - 東京 千代田区
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