アンリツ株式会社
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■ 2021年 出願公開件数ランキング 第365位 99件
（
2020年：第506位 65件）
■ 2021年 特許取得件数ランキング 第346位 77件
（2020年：第463位 52件）
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アンリツ株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 6924176 | 移動端末試験装置、移動端末試験システムとＮＳＡの試験方法 | 2021年 8月25日 | |
| 特許 6924793 | 金属検出機 | 2021年 8月25日 | |
| 特許 6925598 | 測定装置および該装置のパラメータ設定方法 | 2021年 8月25日 | |
| 特許 6920850 | Ｘ線検査装置 | 2021年 8月18日 | |
| 特許 6914990 | 物品検査装置及び物品検査方法 | 2021年 8月 4日 | |
| 特許 6904722 | 物品検査装置 | 2021年 7月21日 | |
| 特許 6901294 | Ｘ線検査装置 | 2021年 7月14日 | |
| 特許 6900441 | ＰＡＭ３信号発生装置及びＰＡＭ３信号発生方法 | 2021年 7月 7日 | |
| 特許 6894881 | 移動端末試験装置、移動端末試験システム及びデュアルコネクティビティの試験方法 | 2021年 6月30日 | |
| 特許 6895733 | 光ファイバ障害点特定システムとその光ファイバ障害点特定方法 | 2021年 6月30日 | |
| 特許 6896354 | 光パルス試験装置及び光パルス試験方法 | 2021年 6月30日 | |
| 特許 6893958 | クロックエラー補正装置、それを備えた測定装置、クロックエラー補正方法、及び測定方法 | 2021年 6月23日 | |
| 特許 6893963 | エンファシス付加装置、エンファシス付加方法及び誤り率測定装置 | 2021年 6月23日 | |
| 特許 6890625 | 誤り測定器及びそれを用いた応答時間の測定方法 | 2021年 6月18日 | |
| 特許 6886449 | アンテナ装置及び測定方法 | 2021年 6月16日 |
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6924176 6924793 6925598 6920850 6914990 6904722 6901294 6900441 6894881 6895733 6896354 6893958 6893963 6890625 6886449
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