特許ランキング - 出願人詳細情報 -

アンリツ株式会社

※ ログインすれば出願人(アンリツ株式会社)をリストに登録できます。ログインについて

　■　2021年出願公開件数ランキング　　　第365位　99件（2020年：第506位　65件）

　■　2021年特許取得件数ランキング　　　第346位　77件（2020年：第463位　52件）

（ランキング更新日：2025年6月25日）筆頭出願人である出願のみカウントしています

2011年 2012年 2013年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2022年 2023年 2024年 2025年

アンリツ株式会社の商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特許 6836569	誤り率測定装置および誤り率測定方法	2021年 3月 3日
特許 6836607	アンテナ装置及び測定方法	2021年 3月 3日
特許 6836610	誤り率測定装置および誤り率測定方法	2021年 3月 3日
特許 6838116	周波数変換器、及び高周波信号の供給方法	2021年 3月 3日
特許 6839226	位相特性校正装置および位相特性校正方法	2021年 3月 3日
特許 6827484	誤り率測定装置および誤り率測定方法	2021年 2月10日
特許 6828227	光周波数領域反射測定装置及び光周波数領域反射測定方法	2021年 2月10日
特許 6823611	無線端末のアクティブアンテナ推定方法および無線端末測定装置	2021年 2月 3日
特許 6824204	無線端末測定装置	2021年 2月 3日
特許 6821534	信号解析装置及び信号解析方法並びに信号解析プログラム	2021年 1月27日
特許 6821551	サンプリングオシロスコープ及びこれを用いたサンプリング方法	2021年 1月27日
特許 6821717	誤り検出装置および誤り検出方法	2021年 1月27日
特許 6821719	バーストエラー付加装置、それを用いた試験信号発生装置、及びバーストエラー付加方法	2021年 1月27日
特許 6818055	誤り率測定装置及び誤り率測定方法	2021年 1月20日
特許 6818056	誤り率測定装置及び誤り率測定方法	2021年 1月20日

77 件中 61-75 件を表示

... 5

※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。

このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー

6836569 6836607 6836610 6838116 6839226 6827484 6828227 6823611 6824204 6821534 6821551 6821717 6821719 6818055 6818056

※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。アンリツ株式会社の知財の動向チェックに便利です。

ログインについて

ランキング一覧に戻る

特許ランキング

2025年特許出願件数	2025年特許取得件数
2024年特許出願件数	2024年特許取得件数
2023年特許出願件数	2023年特許取得件数
2022年特許出願件数	2022年特許取得件数
2020年特許出願件数	2020年特許取得件数
2019年特許出願件数	2019年特許取得件数
2018年特許出願件数	2018年特許取得件数
2017年特許出願件数	2017年特許取得件数
2016年特許出願件数	2016年特許取得件数
2015年特許出願件数	2015年特許取得件数
2014年特許出願件数	2014年特許取得件数
2013年特許出願件数	2013年特許取得件数
2012年特許出願件数	2012年特許取得件数
2011年特許出願件数	2011年特許取得件数