特許ランキング - 出願人詳細情報 -

アンリツ株式会社

※ ログインすれば出願人(アンリツ株式会社)をリストに登録できます。ログインについて

　■　2021年出願公開件数ランキング　　　第365位　99件（2020年：第506位　65件）

　■　2021年特許取得件数ランキング　　　第346位　77件（2020年：第463位　52件）

（ランキング更新日：2025年6月26日）筆頭出願人である出願のみカウントしています

2011年 2012年 2013年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2022年 2023年 2024年 2025年

アンリツ株式会社の商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特許 6888210	パルスパターン発生装置、それを用いた誤り率測定システム、及びパルスパターン発生方法	2021年 6月16日
特許 6884743	測定装置、測定システム及び測定方法	2021年 6月 9日
特許 6876021	電磁波シールドボックス	2021年 5月26日
特許 6876589	異常検知装置及び異常検知方法並びに異常検知プログラム	2021年 5月26日
特許 6876730	データ信号伝送装置およびデータ信号伝送方法	2021年 5月26日
特許 6876735	可変低減イコライザ及びそれを用いた損失補償方法と誤り率測定器及び誤り率測定方法	2021年 5月26日
特許 6878392	移動端末試験装置とそのテストケース抽出方法	2021年 5月26日
特許 6871889	ライセンス管理装置、移動端末試験システムとライセンス管理方法	2021年 5月19日
特許 6864605	ミリ波帯フィルタバンクおよびそれを用いたミリ波帯スペクトラムアナライザ	2021年 4月28日
特許 6865246	クロック分配回路及びクロック分配方法と誤り率測定装置及び誤り率測定方法	2021年 4月28日
特許 6867346	アンテナ装置および測定方法	2021年 4月28日
特許 6867359	誤り率測定装置及び誤り率測定方法	2021年 4月28日
特許 6862621	測定装置及び測定方法	2021年 4月21日
特許 6843902	誤り率測定装置および誤り率測定方法	2021年 3月17日
特許 6836565	アンテナ装置及び測定方法	2021年 3月 3日

77 件中 46-60 件を表示

※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。

このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー

6888210 6884743 6876021 6876589 6876730 6876735 6878392 6871889 6864605 6865246 6867346 6867359 6862621 6843902 6836565

※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。アンリツ株式会社の知財の動向チェックに便利です。

ログインについて

ランキング一覧に戻る

特許ランキング

2025年特許出願件数	2025年特許取得件数
2024年特許出願件数	2024年特許取得件数
2023年特許出願件数	2023年特許取得件数
2022年特許出願件数	2022年特許取得件数
2020年特許出願件数	2020年特許取得件数
2019年特許出願件数	2019年特許取得件数
2018年特許出願件数	2018年特許取得件数
2017年特許出願件数	2017年特許取得件数
2016年特許出願件数	2016年特許取得件数
2015年特許出願件数	2015年特許取得件数
2014年特許出願件数	2014年特許取得件数
2013年特許出願件数	2013年特許取得件数
2012年特許出願件数	2012年特許取得件数
2011年特許出願件数	2011年特許取得件数