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■ 2026年 出願公開件数ランキング 第286位 95件
(
2025年:第266位 128件)
■ 2026年 特許取得件数ランキング 第290位 77件
(
2025年:第311位 90件)
(ランキング更新日:2026年10月23日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 7873650 | X線発生器及びこれを備えたX線検査装置 | 2026年 6月12日 | |
| 特許 7872942 | 電子機器用筐体及び電子機器用筐体の製造方法 | 2026年 6月11日 | |
| 特許 7872332 | 誤り測定装置及び誤り測定方法 | 2026年 6月 9日 | |
| 特許 7869900 | 誤り率測定装置、及び誤り率測定方法 | 2026年 6月 3日 | |
| 特許 7869187 | X線検査装置及びX線検査システム | 2026年 6月 2日 | |
| 特許 7869180 | 物品検査装置 | 2026年 6月 2日 | |
| 特許 7869169 | 信号発生方法および信号発生器 | 2026年 6月 2日 | |
| 特許 7866495 | 生産管理システム及び生産管理プログラム | 2026年 5月27日 | |
| 特許 7864155 | 測定装置とその測定方法 | 2026年 5月22日 | |
| 特許 7863426 | 検査装置 | 2026年 5月21日 | |
| 特許 7855111 | 誤り率測定装置、及び誤り率測定方法 | 2026年 5月 7日 | |
| 特許 7855051 | 誤り測定装置及び誤り測定方法 | 2026年 5月 7日 | |
| 特許 7850785 | 信号発生装置および信号発生方法 | 2026年 4月23日 | |
| 特許 7850765 | 誤り率測定装置及び誤り率測定方法 | 2026年 4月23日 | |
| 特許 7850758 | 誤り率測定装置及び誤り率測定方法 | 2026年 4月23日 |
77 件中 31-45 件を表示
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7873650 7872942 7872332 7869900 7869187 7869180 7869169 7866495 7864155 7863426 7855111 7855051 7850785 7850765 7850758
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