アンリツ株式会社
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（
2025年：第266位 128件）
■ 2026年 特許取得件数ランキング 第290位 77件
（
2025年：第311位 90件）
（ランキング更新日：2026年10月23日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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アンリツ株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 7850539 | 物品検査装置 | 2026年 4月23日 | |
| 特許 7847558 | Ｘ線検査装置 | 2026年 4月17日 | |
| 特許 7847559 | Ｘ線検査装置 | 2026年 4月17日 | |
| 特許 7846157 | ネットワーク測定装置とその遅延時間補正方法 | 2026年 4月14日 | |
| 特許 7836921 | 誤り検出装置及びキャプチャ解析方法 | 2026年 3月27日 | |
| 特許 7836920 | 誤り検出装置及びキャプチャ解析方法 | 2026年 3月27日 | |
| 特許 7836919 | 誤り検出装置及びキャプチャ解析方法 | 2026年 3月27日 | |
| 特許 7829636 | 水素ガスセンサ及びその製造方法 | 2026年 3月13日 | |
| 特許 7829539 | 高次モード抑制器、それを用いた導波管フィルタ装置、スペクトラムアナライザ、シグナルアナライザ、信号発生装置、高次モード抑制制御方法、及びフィルタ構成方法 | 2026年 3月13日 | |
| 特許 7827668 | Ｘ線発生器及びこれを備えたＸ線検査装置 | 2026年 3月10日 | |
| 特許 7826350 | 測定装置とその測定対象設定方法 | 2026年 3月 9日 | |
| 特許 7826349 | 測定装置とその測定対象設定方法 | 2026年 3月 9日 | |
| 特許 7819163 | 質量推定方法及びＸ線検査装置 | 2026年 2月24日 | |
| 特許 7818188 | 差動スキュー生成装置および差動スキュー生成方法 | 2026年 2月20日 | |
| 特許 7817299 | 移動端末試験装置とその移動端末試験方法 | 2026年 2月18日 |
77 件中 46-60 件を表示
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7850539 7847558 7847559 7846157 7836921 7836920 7836919 7829636 7829539 7827668 7826350 7826349 7819163 7818188 7817299
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