アンリツ株式会社
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■ 2025年 出願公開件数ランキング 第256位 125件
（
2024年：第334位 97件）
■ 2025年 特許取得件数ランキング 第307位 85件
（
2024年：第292位 106件）
（ランキング更新日：2025年12月5日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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アンリツ株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 7764455 | アンテナアレー校正方法およびアンテナアレー校正装置 | 2025年11月 5日 | |
| 特許 7764456 | アンテナアレー校正方法およびアンテナアレー校正装置 | 2025年11月 5日 | |
| 特許 7763204 | 物品検査装置 | 2025年10月31日 | |
| 特許 7763284 | 誤り率測定装置及び信号検出方法 | 2025年10月31日 | |
| 特許 7761540 | 吸引選別装置および物品検査システム | 2025年10月28日 | |
| 特許 7761607 | Ｘ線検査システムおよびそのキャリブレーション方法 | 2025年10月28日 | |
| 特許 7754861 | 振分装置および物品検査システム | 2025年10月15日 | |
| 特許 7752659 | 測定システムとその時刻情報補正方法 | 2025年10月10日 | |
| 特許 7741156 | シーケンスパターン発生装置とその設定方法 | 2025年 9月17日 | |
| 特許 7741215 | 移動端末試験装置とその呼接続確認方法 | 2025年 9月17日 | |
| 特許 7735336 | 測定装置 | 2025年 9月 8日 | |
| 特許 7731404 | パターン発生装置およびパターン発生方法と誤り率測定装置および誤り率測定方法 | 2025年 8月29日 | |
| 特許 7730512 | 光てこ感度の決定方法 | 2025年 8月28日 | |
| 特許 7730797 | 物品検査装置及び物品選別装置 | 2025年 8月28日 | |
| 特許 7730799 | 物品搬送装置 | 2025年 8月28日 |
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7764455 7764456 7763204 7763284 7761540 7761607 7754861 7752659 7741156 7741215 7735336 7731404 7730512 7730797 7730799
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