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エフ・イ−・アイ・カンパニー

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エフ・イ−・アイ・カンパニーの商標一覧

公報番号	発明の名称	公報発行日
特開 2014-232876	集束イオン・ビームを使用した半導体デバイスの平面デプロセッシング用の前駆体	2014年12月11日
特表 2014-532963	試料ブロック・ホルダ	2014年12月 8日
特表 2014-532197	顕微鏡デバイス	2014年12月 4日
特表 2014-530346	視射角ミル	2014年11月17日
特開 2014-187370	微小金属構造の製造方法	2014年10月 2日
特開 2014-187371	半導体試験方法	2014年10月 2日
特開 2014-182125	高スループットのサンプル作製のためのナノマニピュレータに対する複数のサンプルの付着	2014年 9月29日
特開 2014-182123	複数画像の計測	2014年 9月29日
特開 2014-167474	デコレーションを用いたスライス・アンド・ビュー	2014年 9月11日
特開 2014-166651	レーザ機械加工のための方法および装置	2014年 9月11日
特開 2014-165174	集束イオン・ビームの低ｋＶ強化	2014年 9月 8日
特表 2014-523071	流体高電圧絶縁に関連して使用される固体媒質中への電極の封入	2014年 9月 8日
特開 2014-160068	蛍光マーカの原位置再活性化	2014年 9月 4日
特表 2014-520385	能動的に流れ出ることのない液体を用いた誘導結合プラズマ・イオン源の高電圧絶縁	2014年 8月21日
特開 2014-132598	チャンバ内電子検出器	2014年 7月17日

28 件中 1-15 件を表示

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2014-232876 2014-532963 2014-532197 2014-530346 2014-187370 2014-187371 2014-182125 2014-182123 2014-167474 2014-166651 2014-165174 2014-523071 2014-160068 2014-520385 2014-132598

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