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エフ・イ−・アイ・カンパニー

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　■　2015年特許取得件数ランキング　　　第1019位　20件（2014年：第1392位　18件）

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エフ・イ−・アイ・カンパニーの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特表 2015-536457	自動化された鉱物分類	2015年12月21日
特開 2015-207559	高アスペクト比Ｘ線ターゲットおよびその使用	2015年11月19日
特表 2015-533263	多次元構造体アクセス	2015年11月19日
特表 2015-533256	傾斜ミリング保護のためのバルク付着	2015年11月19日
特表 2015-533255	荷電粒子ビーム試料作製におけるカーテニングを低減させる方法およびシステム	2015年11月19日
特表 2015-533215	高アスペクト比構造体の分析	2015年11月19日
特開 2015-204296	大容量ＴＥＭグリッド	2015年11月16日
特開 2015-170600	相関原子分解能断層撮影分析用の適応性がある（ｍａｌｌｅａｂｌｅ）薄片の製作	2015年 9月28日
特開 2015-164227	レーザ・アブレーション微細機械加工用の荷電粒子ビーム・マスキング	2015年 9月10日
特表 2015-525951	多種イオン源	2015年 9月 7日
特表 2015-525959	集束イオン・ビーム処理の終点決定	2015年 9月 7日
特表 2015-524987	環境制御型ＳＥＭガス注入システム	2015年 8月27日
特表 2015-523581	自動化されたＥＤＳ標準の較正	2015年 8月13日
特開 2015-143688	プログラムされたマニピュレータを用いた表面除層	2015年 8月 6日
特表 2015-517676	ＴＥＭ観察用の薄片の調製	2015年 6月22日

22 件中 1-15 件を表示

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2015-536457 2015-207559 2015-533263 2015-533256 2015-533255 2015-533215 2015-204296 2015-170600 2015-164227 2015-525951 2015-525959 2015-524987 2015-523581 2015-143688 2015-517676

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