ホーム > 特許ランキング > エフ・イ−・アイ・カンパニー > 2018年 > 出願公開一覧
※ ログインすれば出願人(エフ・イ−・アイ・カンパニー)をリストに登録できます。ログインについて
■ 2018年 出願公開件数ランキング 第3054位 6件
(2017年:第1994位 12件)
■ 2018年 特許取得件数ランキング 第930位 22件
(2017年:第872位 25件)
(ランキング更新日:2025年4月15日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
2011年 2012年 2013年 2014年 2015年 2016年 2017年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年 2025年
公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特開 2018-190705 | 荷電粒子源の放出雑音補正 | 2018年11月29日 | |
特開 2018-186076 | 荷電粒子顕微鏡における収差測定 | 2018年11月22日 | |
特開 2018-152327 | 衝突イオン化源 | 2018年 9月27日 | |
特開 2018-152548 | 欠陥分析 | 2018年 9月27日 | |
特開 2018-136306 | eビーム操作用の局部的に排気された容積を用いる集積回路解析システムおよび方法 | 2018年 8月30日 | |
特開 2018-98194 | 炭素除去のための荷電粒子ビーム・プロセスの強化 | 2018年 6月21日 |
6 件中 1-6 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー
2018-190705 2018-186076 2018-152327 2018-152548 2018-136306 2018-98194
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。エフ・イ−・アイ・カンパニーの知財の動向チェックに便利です。
〒220-0004 横浜市西区北幸1-5-10 JPR横浜ビル8階 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
〒140-0002 東京都品川区東品川2丁目2番24号 天王洲セントラルタワー21F・22F 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
〒541-0046 大阪市中央区平野町2丁目2番9号 ビル皿井2階 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング