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エフ・イ−・アイ・カンパニー

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エフ・イ−・アイ・カンパニーの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特開 2016-219412	改良された画像化ガスを用いる電子ビーム顕微鏡およびその使用方法	2016年12月22日
特開 2016-213189	有向ビーム信号分析を使用した粒子サイズの適応走査	2016年12月15日
特開 2016-195111	プロセス・ガスおよび冷却された表面を使用した荷電粒子ビーム処理	2016年11月17日
特開 2016-156812	自動化されたＳ／ＴＥＭ取得および測定のための既知の形状の薄片を使用したパターン・マッチング	2016年 9月 1日
特開 2016-156826	試料特有参照スペクトル・ライブラリ	2016年 9月 1日
特開 2016-119300	基準マークに基づく相関顕微鏡法	2016年 6月30日
特開 2016-105077	自動化されたＴＥＭ試料調製	2016年 6月 9日
特開 2016-72248	荷電粒子ビーム・システム用のシケイン・ブランカ・アセンブリおよびその使用方法	2016年 5月 9日
特開 2016-58383	自動スライス・アンド・ビュー下部切削	2016年 4月21日
特表 2016-511533	高アスペクト比構造体内への材料の付着	2016年 4月14日
特開 2016-54155	荷電粒子ビーム・システム用の環境セル	2016年 4月14日
特表 2016-509669	画像化用の試料を作製する方法	2016年 3月31日
特開 2016-35450	生体試料の位置を特定し画像化するための機能化された格子およびその使用方法	2016年 3月17日
特表 2016-505848	自動鉱物識別を実行する方法	2016年 2月25日
特表 2016-504599	エッチング速度を変化させるためのイオン注入	2016年 2月12日

20 件中 1-15 件を表示

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2016-219412 2016-213189 2016-195111 2016-156812 2016-156826 2016-119300 2016-105077 2016-72248 2016-58383 2016-511533 2016-54155 2016-509669 2016-35450 2016-505848 2016-504599

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