特許ランキング - 出願人詳細情報 -

エフ・イ−・アイ・カンパニー

※ ログインすれば出願人(エフ・イ−・アイ・カンパニー)をリストに登録できます。ログインについて

　■　2013年出願公開件数ランキング　　　第918位　34件（2012年：第2735位　7件）

　■　2013年特許取得件数ランキング　　　第2127位　10件（2012年：第1784位　13件）

（ランキング更新日：2025年2月17日）筆頭出願人である出願のみカウントしています

2011年 2012年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年 2025年

エフ・イ−・アイ・カンパニーの商標一覧

公報番号	発明の名称	公報発行日
特開 2013-257317	角度が固定されたビームと回転する試料ステージとを使用する薄片製作方法および装置	2013年12月26日
特開 2013-254722	ターゲット位置における異なるビーム・エネルギーで動作する集束荷電粒子カラム	2013年12月19日
特開 2013-251258	プラズマ・イオン源に対する改良された画像化および処理	2013年12月12日
特開 2013-243128	適応走査を有する走査顕微鏡	2013年12月 5日
特表 2013-542563	誘導結合プラズマ・イオン源用のコンパクトなＲＦアンテナ	2013年11月21日
特開 2013-214513	レーザ・アブレーション中に光学構成部品を保護するシステム	2013年10月17日
特開 2013-214502	自動化されたイオン・ビームのアイドリング	2013年10月17日
特表 2013-538334	視覚画像化および赤外画像化を行なう荷電粒子ビーム処理システム	2013年10月10日
特開 2013-197101	光学分光計を使用して誘導結合プラズマ・イオン源を能動的に監視する方法および装置	2013年 9月30日
特開 2013-197594	複数ガス注入システム	2013年 9月30日
特表 2013-536982	低質量種と高質量種の両方を含むイオン源を使用した誘導および試料処理	2013年 9月26日
特表 2013-535800	荷電粒子検出器	2013年 9月12日
特開 2013-179070	ビームシステムのビームカラムを傾動する装置並びにビームシステム	2013年 9月 9日
特表 2013-532883	走査共焦点電子顕微鏡のコントラストの向上	2013年 8月19日
特開 2013-157601	低エネルギー・イオン・ビーム・エッチング	2013年 8月15日

34 件中 1-15 件を表示

※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。

このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー

2013-257317 2013-254722 2013-251258 2013-243128 2013-542563 2013-214513 2013-214502 2013-538334 2013-197101 2013-197594 2013-536982 2013-535800 2013-179070 2013-532883 2013-157601

※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。エフ・イ−・アイ・カンパニーの知財の動向チェックに便利です。

ログインについて

ランキング一覧に戻る

特許ランキング

2025年特許出願件数	2025年特許取得件数
2024年特許出願件数	2024年特許取得件数
2023年特許出願件数	2023年特許取得件数
2022年特許出願件数	2022年特許取得件数
2021年特許出願件数	2021年特許取得件数
2020年特許出願件数	2020年特許取得件数
2019年特許出願件数	2019年特許取得件数
2018年特許出願件数	2018年特許取得件数
2017年特許出願件数	2017年特許取得件数
2016年特許出願件数	2016年特許取得件数
2015年特許出願件数	2015年特許取得件数
2014年特許出願件数	2014年特許取得件数
2012年特許出願件数	2012年特許取得件数
2011年特許出願件数	2011年特許取得件数