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エフ・イ−・アイ・カンパニー
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■ 2015年 出願公開件数ランキング 第1203位 22件
（
2014年：第986位 28件）
■ 2015年 特許取得件数ランキング 第1019位 20件
（
2014年：第1392位 18件）
（ランキング更新日：2025年3月28日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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エフ・イ−・アイ・カンパニーの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特開 2015-111108 | 断面形成用途のプロセス自動化のためのパターン認識を伴う差分画像化 | 2015年 6月18日 | |
| 特開 2015-92156 | 統合薄片抜取りステーション | 2015年 5月14日 | |
| 特開 2015-43425 | 荷電粒子ビーム・システム用の回路プローブ | 2015年 3月 5日 | |
| 特開 2015-38469 | 平面視試料の調製 | 2015年 2月26日 | |
| 特開 2015-38477 | 試料調製中におけるＴＥＭ試料からのプローブの分離 | 2015年 2月26日 | |
| 特開 2015-29072 | 電子ビーム誘起エッチング | 2015年 2月12日 | |
| 特表 2015-500987 | 断面観察薄片の裏側薄化用の高スループットＴＥＭ調製プロセスおよびハードウェア | 2015年 1月 8日 |
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2015-111108 2015-92156 2015-43425 2015-38469 2015-38477 2015-29072 2015-500987
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