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エフ・イ−・アイ・カンパニー

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エフ・イ−・アイ・カンパニーの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特許 5820552	集束イオン・ビーム・システムおよびそのビーム品質を改善する方法	2015年11月24日
特許 5805536	局所領域ナビゲーション用の高精度ビーム配置	2015年11月 4日
特許 5794990	分散イオン源加速カラム	2015年10月14日
特許 5784953	画像上または撮像されたオブジェクト上で動作を実行する方法、画像またはオブジェクト上で反復的な動作を実行する方法、幾何学的情報と非幾何学的情報をグラフィック図形に関連付けるステップを含む動作を制御する方法、計測プランを含む方法およびコンピュータ可読媒体	2015年 9月24日
特許 5774269	マルチステージ・ガス・カスケード増幅器	2015年 9月 9日
特許 5758577	高圧荷電粒子ビーム・システム	2015年 8月 5日
特許 5756585	組合せレーザおよび荷電粒子ビーム・システム	2015年 7月29日
特許 5756584	レーザ・アブレーション微細機械加工用の荷電粒子ビーム・マスキング	2015年 7月29日
特許 5744727	レーザ機械加工のための方法および装置	2015年 7月 8日
特許 5744821	電子顕微鏡用ユーザ・インタフェース	2015年 7月 8日
特許 5744454	ユーザが選択可能な複数の動作モードを有する荷電粒子ビーム・システム	2015年 7月 8日
特許 5744394	電子顕微鏡用Ｘ線検出器	2015年 7月 8日
特許 5711204	サンプル抽出および取り扱いのための方法および装置	2015年 4月30日
特許 5698885	Ｘ線分光法用の微量熱量測定	2015年 4月 8日
特許 5694626	構造の３次元粗さを測定する方法	2015年 4月 1日

20 件中 1-15 件を表示

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5820552 5805536 5794990 5784953 5774269 5758577 5756585 5756584 5744727 5744821 5744454 5744394 5711204 5698885 5694626

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