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■ 2015年 出願公開件数ランキング 第988位 28件
(2014年:第1122位 24件)
■ 2015年 特許取得件数ランキング 第1019位 20件
(2014年:第702位 43件)
(ランキング更新日:2025年6月26日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特許 5714861 | X線画像撮影方法およびX線画像撮影装置 | 2015年 5月 7日 | |
特許 5700685 | 表面微細構造計測方法、表面微細構造計測データ解析方法およびX線散乱測定装置 | 2015年 4月15日 | |
特許 5695589 | X線強度補正方法およびX線回折装置 | 2015年 4月 8日 | |
特許 5695595 | X線測定装置 | 2015年 4月 8日 | |
特許 5660683 | X線回折装置 | 2015年 1月28日 |
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5714861 5700685 5695589 5695595 5660683
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