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日本電子株式会社

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日本電子株式会社の商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特開 2025-179875	マススペクトル処理装置及び方法	2025年12月11日
特開 2025-175497	粒子解析装置及び方法	2025年12月 3日
特開 2025-174287	空間分解能測定用試料、空間分解能測定用試料の製造方法、および空間分解能の測定方法	2025年11月28日
特開 2025-174286	像取得方法および走査透過電子顕微鏡	2025年11月28日
特開 2025-167808	自動分析装置および自動分析装置の制御方法	2025年11月 7日
特開 2025-166984	安定同位体標識されたシステイニルドーパ、及び分析方法	2025年11月 7日
特開 2025-161433	集束イオンビーム装置	2025年10月24日
特開 2025-159911	荷電粒子線装置および解析方法	2025年10月22日
特開 2025-150329	透過電子顕微鏡、画像分類方法、および電子ビームの調整方法	2025年10月 9日
特開 2025-144829	荷電粒子線装置および荷電粒子線装置の制御方法	2025年10月 3日
特開 2025-144019	治具	2025年10月 2日
特開 2025-141164	自動分析装置および再起動制御方法	2025年 9月29日
特開 2025-140703	荷電粒子線装置および荷電粒子源ユニットの交換方法	2025年 9月29日
特開 2025-128845	極低温透過型電子顕微鏡用試料の作製装置	2025年 9月 3日
特開 2025-126521	走査透過電子顕微鏡およびアパーチャーの位置合わせ方法	2025年 8月29日

44 件中 1-15 件を表示

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2025-179875 2025-175497 2025-174287 2025-174286 2025-167808 2025-166984 2025-161433 2025-159911 2025-150329 2025-144829 2025-144019 2025-141164 2025-140703 2025-128845 2025-126521

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