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アプライド マテリアルズ イスラエル リミテッド
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■ 2024年 出願公開件数ランキング 第3594位 5件
（
2023年：第1835位 12件）
■ 2024年 特許取得件数ランキング 第1617位 12件
（
2023年：第2186位 8件）
（ランキング更新日：2026年2月10日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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アプライド マテリアルズ イスラエル リミテッドの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 7579756 | 半導体試料の検査に使用可能な訓練データの生成 | 2024年11月 8日 | |
| 特許 7579267 | 希少確率欠陥を検出するシステムおよび方法 | 2024年11月 7日 | |
| 特許 7550136 | 物体の領域を評価するための方法 | 2024年 9月12日 | |
| 特許 7539464 | 標本を検査する方法および荷電粒子ビーム装置 | 2024年 8月23日 | |
| 特許 7536881 | 半導体試料の試験 | 2024年 8月20日 | |
| 特許 7530330 | 半導体試料の画像のセグメンテーション | 2024年 8月 7日 | |
| 特許 7526209 | 多層物体のミリング | 2024年 7月31日 | |
| 特許 7522747 | 対物レンズ装置 | 2024年 7月25日 | |
| 特許 7495939 | 走査電子顕微鏡およびオーバーレイ監視方法 | 2024年 6月 5日 | |
| 特許 7495978 | 平坦な上面を有するミリングされた構造要素の生成 | 2024年 6月 5日 | |
| 特許 7475901 | 試験片上の欠陥検出の方法およびそのシステム | 2024年 4月30日 | |
| 特許 7454057 | 試料の試験のための欠陥位置の決定 | 2024年 3月21日 |
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7579756 7579267 7550136 7539464 7536881 7530330 7526209 7522747 7495939 7495978 7475901 7454057
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