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株式会社ブイ・テクノロジー
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■ 2022年 出願公開件数ランキング 第964位 27件
（
2021年：第745位 40件）
■ 2022年 特許取得件数ランキング 第1537位 13件
（
2021年：第1853位 9件）
（ランキング更新日：2025年3月24日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社ブイ・テクノロジーの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 7178710 | レーザ修正方法、レーザ修正装置 | 2022年11月28日 | |
| 特許 7175457 | レーザ加工装置、レーザ加工方法及び成膜マスクの製造方法 | 2022年11月21日 | |
| 特許 7161758 | レーザアニール装置 | 2022年10月27日 | |
| 特許 7154592 | レーザアニール方法およびレーザアニール装置 | 2022年10月18日 | |
| 特許 7140384 | レーザアニール装置 | 2022年 9月21日 | |
| 特許 7136467 | 高圧放電ランプ及びその制御方法 | 2022年 9月13日 | |
| 特許 7126244 | 投影マスク、およびレーザ照射装置 | 2022年 8月26日 | |
| 特許 7105482 | 石定盤の温度調整装置およびそれを備えた検査装置 | 2022年 7月25日 | |
| 特許 7088552 | 近接露光装置及び近接露光方法 | 2022年 6月21日 | |
| 特許 7067782 | 高圧放電ランプ | 2022年 5月16日 | |
| 特許 7051099 | レーザエネルギ測定装置、およびレーザエネルギ測定方法 | 2022年 4月11日 | |
| 特許 7040766 | 超音波距離測定装置及び超音波距離測定方法 | 2022年 3月23日 | |
| 特許 7017239 | 露光装置および高さ調整方法 | 2022年 2月 8日 |
13 件中 1-13 件を表示
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7178710 7175457 7161758 7154592 7140384 7136467 7126244 7105482 7088552 7067782 7051099 7040766 7017239
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