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株式会社ブイ・テクノロジー

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 ■ 2011年 出願公開件数ランキング     件 (変わらず2010年: 件)

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公報番号発明の名称公報発行日備考
特許 4829055 微小高さ測定方法及び微小高さ測定装置 2011年11月30日
特許 4822914 欠陥修正方法 2011年11月24日
特許 4822977 ブラックマトリクスのパターン形成方法及び露光装置 2011年11月24日
特許 4785361 光学式検査装置 2011年10月 5日
特許 4777682 スキャン露光装置 2011年 9月21日
特許 4778213 欠陥修正方法 2011年 9月21日
特許 4773077 オートフォーカス装置及びオートフォーカス方法 2011年 9月14日
特許 4773158 露光装置 2011年 9月14日
特許 4773160 露光装置 2011年 9月14日
特許 4764237 露光装置 2011年 8月31日
特許 4764197 液晶表示用基板の製造方法 2011年 8月31日
特許 4764250 インク充填装置 2011年 8月31日
特許 4754924 露光装置 2011年 8月24日
特許 4738887 露光装置 2011年 8月 3日
特許 4731886 液晶表示装置用基板の製造方法 2011年 7月27日

31 件中 1-15 件を表示

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4829055 4822914 4822977 4785361 4777682 4778213 4773077 4773158 4773160 4764237 4764197 4764250 4754924 4738887 4731886

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