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株式会社ブイ・テクノロジー
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■ 2023年 出願公開件数ランキング 第2343位 9件
（
2022年：第964位 27件）
■ 2023年 特許取得件数ランキング 第1732位 11件
（2022年：第1537位 13件）
（ランキング更新日：2025年3月25日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社ブイ・テクノロジーの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 7365047 | 表面分析方法、表面分析装置 | 2023年10月19日 | |
| 特許 7348647 | レーザ照射装置 | 2023年 9月21日 | |
| 特許 7343886 | 研磨ヘッド及び研磨装置 | 2023年 9月13日 | |
| 特許 7343891 | 貼り合わせ装置、貼り合わせ方法及び表示装置の製造方法 | 2023年 9月13日 | |
| 特許 7332144 | レーザ修正方法、レーザ修正装置 | 2023年 8月23日 | |
| 特許 7305178 | 研磨装置 | 2023年 7月10日 | |
| 特許 7287669 | 欠陥部認識装置及び欠陥部認識方法 | 2023年 6月 6日 | |
| 特許 7266864 | 露光装置及び露光方法 | 2023年 5月 1日 | |
| 特許 7231205 | マスク検査装置 | 2023年 3月 1日 | |
| 特許 7226767 | レーザアニール装置およびレーザアニール方法 | 2023年 2月21日 | |
| 特許 7203417 | レーザアニール方法、レーザアニール装置、およびＴＦＴ基板 | 2023年 1月13日 |
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7365047 7348647 7343886 7343891 7332144 7305178 7287669 7266864 7231205 7226767 7203417
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